ICP-AES法分析中灵敏度漂移应如何校正？
题目
ICP-AES法分析中灵敏度漂移应如何校正？
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第1题：
影响ICP-AES法分析特性的主要工作参数有3个，即（）、（）和（）。
正确答案:高频功率；载气流量；观测高度 -
第2题：
影响ICP－AES法分析特性的主要工作参数有3个，即（）、（）、（）。
正确答案:高频功率；载气流量；观测高度 -
第3题：
光度法和ICP－AES分析钢中硅，分解试样时应注意采用稀酸并低温加热。
正确答案:正确 -
第4题：
ICP-AES法测定时，（）法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法，多数IC.P光谱仪软件中采用这种方法。
正确答案:干扰系数 -
第5题：
原子吸收光谱分析法中，背景干扰是怎样产生的？如何抑制和校正光谱背景？简述用氘灯校正背景吸收的原理。
正确答案:原子吸收光谱分析法中的背景干扰是由原子化过程中产生的分子吸收和固体微粒产生的光散射引起的干扰。在实际工作中，多采用改变火焰类型、燃助比和调节火焰观测区高度来抑制分子吸收干扰，在石墨炉原子吸收光谱分析中，常选用适当基体改进剂，采用选择性挥发来抑制分子吸收的干扰；在原子吸收光谱分析中，可采用仪器调零吸收法、邻近线校正背景法、氘灯校正背景法和塞曼效应校正背景法等方法来校正背景。氘灯校正背景是采用双光束外光路，氘灯光束为参比光束。氘灯是一种高压氘气气体（D2）放电灯，辐射190～350nm的连续光谱。切光器使入射强度相等的锐线辐射和连续辐射交替地通过原子化吸收区。用锐线光源测定地吸光度值为原子吸收和背景吸收的总吸光度值，而用氘灯测定的吸光度仅为背景吸收值，这是因为连续光谱被基态原子的吸收值相对于总吸光度可以忽略不计。仪器上直接显示出两次测定的吸光度之差，即是经过背景校正后的被测定元素的吸光度值。 -
第6题：
用ICP-AES法分析固体样品时，消解样品常用的无机酸有哪四种？
正确答案: 硝酸、盐酸、氢氟酸和高氯酸。 -
第7题：
电感耦合等离子体原子发射光谱法测定环境空气总悬浮颗粒物中金属和非金属样品时，如何校正ICP-AES法的非光谱干扰？
正确答案: 优化实验条件、选择最佳工作参数或采用基体匹配法和标准加入法校正非光谱干扰。 -
第8题：
问答题ICP-AES法中的积分时间如何确定？正确答案： 瞬时测量表现出测量值波动较大，应取一定时间的积分测量值。积分时间应根据测量值波动大小来选择。波动性小，积分1~3s即可，波动性大，积分时间长些为好。解析： 暂无解析 -
第9题：
单选题为防止波长漂移，ICP-AES光谱仪在测定前至少要开机预热（）。A1h
B10min
C5h
正确答案： A解析： 暂无解析 -
第10题：
判断题用ICP-AES法测定水中金属元素时，分析过程中沾污造成的空白值，可作为干扰进行校正。A对
B错
正确答案： 错解析： 用ICP-AES法测定时，不能把沾污造成的空白值，作为干扰进行校正。 -
第11题：
判断题ICP-AES法分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光谱背景，否则标准曲线不通过原点。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第12题：
问答题ICP-AES法分析中灵敏度漂移应如何校正？正确答案： 在测定过程中，气体压力改变会影响到原子化效率和基态原子的分布；另外，毛细管阻塞、废液排泄不畅，会使溶液提升量和雾化效率受到影响；以及电压变化等诸多因素都会使灵敏度发生漂移，其校正方法可每测10个样品加测一个与样品组成接近的质控样，并根据所用仪器的新旧程度适当缩短标准化的时间间隔。解析： 暂无解析 -
第13题：
ICP-AES法中的积分时间如何确定？
正确答案:瞬时测量表现出测量值波动较大，应取一定时间的积分测量值。积分时间应根据测量值波动大小来选择。波动性小，积分1~3s即可，波动性大，积分时间长些为好。 -
第14题：
脑电图机出现基线漂移故障时，如何分析和排除？
正确答案:基线漂移：记录笔只朝一个方向偏转，定标时有漂移，是管子质量不好引起的，定标时无漂移，则是电极安放不对，接触不良引起。 -
第15题：
气相色谱分析中，色谱图中基线在一段较长时间内的变化称为（）。
- A、基线
- B、噪声
- C、漂移
- D、灵敏度
正确答案:C -
第16题：
用ICP－AES法测定水中金属元素时，分析过程中沾污造成的空白值，可作为干扰进行校正。
正确答案:错误 -
第17题：
ICP-AES分析中，产生连续背景的因素有（）、（）、（）和（）4种。
正确答案:黑体辐射；轫致辐射；复合辐射；高浓度基体元素产生的连续背景辐射 -
第18题：
ICP-AES法测定时，（）法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法，多数ICP光谱仪软件中采用这种方法。
正确答案:干扰系数 -
第19题：
ICP-AES法分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光谱背景，否则标准曲线不通过原点。
正确答案:正确 -
第20题：
填空题影响ICP-AES法分析特性的主要工作参数有3个，即（）、（）和（）。正确答案： 高频功率,载气流量,观测高度解析： 暂无解析 -
第21题：
填空题ICP-AES法测定时，（）法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法，多数ICP光谱仪软件中采用这种方法。正确答案： 干扰系数解析： 暂无解析 -
第22题：
问答题原子吸收光谱分析法中，背景干扰是怎样产生的？如何抑制和校正光谱背景？简述用氘灯校正背景吸收的原理。正确答案： 原子吸收光谱分析法中的背景干扰是由原子化过程中产生的分子吸收和固体微粒产生的光散射引起的干扰。在实际工作中，多采用改变火焰类型、燃助比和调节火焰观测区高度来抑制分子吸收干扰，在石墨炉原子吸收光谱分析中，常选用适当基体改进剂，采用选择性挥发来抑制分子吸收的干扰；在原子吸收光谱分析中，可采用仪器调零吸收法、邻近线校正背景法、氘灯校正背景法和塞曼效应校正背景法等方法来校正背景。氘灯校正背景是采用双光束外光路，氘灯光束为参比光束。氘灯是一种高压氘气气体（D2）放电灯，辐射190～350 nm的连续光谱。切光器使入射强度相等的锐线辐射和连续辐射交替地通过原子化吸收区。用锐线光源测定地吸光度值为原子吸收和背景吸收的总吸光度值，而用氘灯测定的吸光度仅为背景吸收值，这是因为连续光谱被基态原子的吸收值相对于总吸光度可以忽略不计。仪器上直接显示出两次测定的吸光度之差，即是经过背景校正后的被测定元素的吸光度值。解析： 暂无解析 -
第23题：
问答题电感耦合等离子体原子发射光谱法测定环境空气总悬浮颗粒物中金属和非金属样品时，如何校正ICP-AES法的非光谱干扰？正确答案： 优化实验条件、选择最佳工作参数或采用基体匹配法和标准加入法校正非光谱干扰。解析： 暂无解析