工厂管理者决定首先采用P控制图，简单地描述画图步骤为( )。A．预备数据的取得B．计算样品不合格品率C．计算p图的控制线D．将各个样本不合格率点描出来

题目

工厂管理者决定首先采用P控制图，简单地描述画图步骤为( )。

A．预备数据的取得

B．计算样品不合格品率

C．计算p图的控制线

D．将各个样本不合格率点描出来

相似考题

1.某工厂为了提高其产品质量，决定采用SPC，工厂管理者最后决定，首先采用p控制图，其画图步骤有( )。A．预备数据的取得B．计算样品不合格品率C．计算p图的控制线D．将各个样本不合格率点描出来E．使用

2.某厂加工连接轴，为控制其直径，应采用( )。A．不合格品率p控制图B．均值一极差控制图C．不合格数c控制图D．不合格品数np控制图

3.某厂加工手表齿轮轴，为控制其直径，应采用（ ）。 A.不合格品率P控制图 B.均值-极差-R控制图 C.不合格数c控制图 D.不合格品数np控制图

4.某厂加工手表齿轮轴，为控制其直径，应采用( )。A．不合格品率p控制图B．均值一极差X-R控制图C．不合格数c控制图D．不合格品数np控制图

更多“工厂管理者决定首先采用P控制图,简单地描述画图步骤为()。A.预备数据的取得B.计算样品不合格品率C ”相关问题

  • 第1题：

    某轴承生产厂为了提高其产品质量，决定采用SPC。
    工厂管理者决定首先采用控制图，简单地描述画图步骤为（ ）。
    A.预备数据的取得 B.计算样品不合格品率
    C.计算P图的控制线 D.将各个样本不合格率点描出来


    答案：A,B,C,D
    解析：
    控制图的绘图步骤依次为：抽取控制对象原始数据；计算样本不合格品率；计算P图的上下控制线；将各样本不合格率点在图上描出。

  • 第2题：

    在常规控制图技术的基础上，控制图技术又有新的发展，下列说法中正确的有（）

    A．指数加权移动平均控制图要求样本数据符合正态分布

    B．高合格品率过程控制图用累积不合格品数代替不合格品数-控制图

    C．多元控制图同时监控多个质量特性（联合监控），避免过控与欠控报警错误

    D．选控图应用数学变换实现对生产过程中的关键异常因素的控制


    B

  • 第3题：

    某厂加工手表齿轮轴，为控制其直径，应采用（)。

    A．不合格品率 控制图

    B．均值--极差控制图

    C．缺陷数 控制图

    D．不合格品数 控制图


    均值－极差控制图

  • 第4题：

    某工厂为了提高其产品质量，决定采用SPC，工厂管理者最后决定，首先采用P控制图, 其画图步骤有（ ）。
    A.预备数据的取得 B.计算样品不合格品率
    C.计算p图的控制限 D.将各个样本不合格率点描出来
    E.使用


    答案：A,B,C,D
    解析：
    p控制图的绘图步骤是：①获取预备数据；②计算样品不合格品率；③计算图的控制限；④绘制控制图，将各样本不合格率点描出。

  • 第5题：

    55、在常规控制图技术的基础上，控制图技术又有新的发展，下列说法中正确的有（）

    A．指数加权移动平均控制图要求样本数据符合正态分布

    B．高合格品率过程控制图用累积不合格品数代替不合格品数-控制图

    C．多元控制图同时监控多个质量特性（联合监控），避免过控与欠控报警错误

    D．选控图应用数学变换实现对生产过程中的关键异常因素的控制


    A

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