EDI运行有一个最佳温度范围，温度高于规定值，离子泄漏量增加，产品水水质将降低。A对B错

第1题：

EDI运行有一个最佳温度范围，温度高于规定值，离子泄漏量增加，产品水水质将降低，其原因是（）

A树脂对离子的吸收速度随温度的升高而降低

B离子迁移速度随温度的升高而降低

C离子交换树脂对离子的选择性增强

D离子通过膜的扩散能力随温度的升高按指数规律降低

第2题：

如果给水温度过，离子通过膜的扩散能力会按指数规律降低，因此使EDI的除盐能力下降，水质降低。

A对

B错

第3题：

EDI运行压力损失随温度的升高而降低，其主要原因是离子迁移速度随温度的升高而加快。

第4题：

EDI组件实际运行（）规定值，产品水中离子不能被完全清除，部分离子将残留于淡水中。

• A、电流低于
• B、电流高于
• C、压力低于
• D、压力高于

第5题：

为了保证EDI组件内部泄漏不影响纯水水质，产品水出口压力应当比浓水和极水出口压力高。

第6题：

如果给水温度过，离子通过膜的扩散能力会按指数规律降低，因此使EDI的除盐能力下降，水质降低。

第7题：

EDI运行压力损失随温度的升高而降低，其主要原因是（）。

• A、离子迁移速度随温度的升高而加快
• B、水的粘度随温度的升高而降低
• C、树脂对离子的吸收速度随温度的升高而加快
• D、离子通过膜的扩散能力随温度的升高按指数规律升高

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

EDI运行压力损失随温度的升高而降低，其主要原因是离子迁移速度随温度的升高而加快。

A对

B错

第14题：

EDI组件实际运行电流低于规定值，可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。

第15题：

EDI运行有一个最佳温度范围，温度高于规定值，离子泄漏量增加，产品水水质将降低。

第16题：

EDI的产品水对给水的压差增加的主要原因是（）。

• A、产品水出口有异物堵塞
• B、运行流量增加
• C、离子交换膜结垢
• D、运行温度升高

第17题：

EDI组件实际运行（）规定值，可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。

• A、电流低于
• B、电流高于
• C、压力低于
• D、压力高于

第18题：

EDI组件实际运行电流高于规定值，产品水中离子不能被完全清除，部分离子将残留于淡水中。

第19题：

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：