现代电子设计方法包含了可测试设计,其中(39)接口是IC芯片测试的标准接口。
A.BIST
B.JTAG
C.UART
D.USB
第1题:
软件测试通常可分为白盒测试和黑盒测试。
白盒测试是根据程序的(1)来设计测试用例,黑盒测试是根据软件的规格说明来设计测试用例。
常用的黑盒测试方法有边值分析、等价类划分、错误猜测、因果图等。其中,(2)经常与其他方法结合起来使用。
软件测试的步骤主要有单元测试、集成测试和确认测试。如果一个软件作为产品被许多客户使用的话,在确认测试时通常要经过α测试和β测试的过程。其中,α测试是(3)进行的一种测试。
在软件设计和编码时,采取(4)等措施都有利于提高软件的可测试性。
A.功能
B.性能
C.内部逻辑
D.内部数据
第2题:
下面关于JTAG的叙述中,错误的是()。
A.JTAG技术为ARM公司专用,非ARM处理器不采用JTAG技术
B.通过JTAG测试接口可对嵌入式处理器芯片进行测试、对系统进行仿真、调试
C.多个器件可以通过JTAG接口串联在一起进行测试
D.通过芯片的JTAG接口可以实现在线编程功能
第3题:
测试经济计算.芯片制造商将大量生产集成电路,其成本计算如下: 设计费用(每个IC摊销)=5.00美元;..每个集成电路的生产成本=1.00美元;每个IC的测试成本=2.00美元 测试作为过滤器具有以下基于测试质量的属性: 95%的真正好的设备将通过测试。96%的坏设备不能通过测试。根据所采用的工艺,所制备的集成电路的真实产率为80%。现在回答以下问题:上述设备的产出率是多少。
第4题:
某公司综合管理信息系统开发项目的WBS分解结构图如图7-5所示。其中①、②、③、④空应该依次填入( )。A.架构设计、模块测试、接口测试、集成测试 B.详细设计、黑盒测试、白盒测试、回归测试 C.架构设计、模块测试、功能测试、验收测试 D.详细设计、单元测试、集成测试、系统测试
第5题:
在软件生命周期的不同阶段,需要实施不同类型的测试工作,单元测试是对程序设计进行验证,其中(39)不是单元测试的主要内容。在进行单元测试过程中,通常测试工程师都需要借助(40)来代替所测模块调用的子模块;在单元测试的基础上,需要将所有模块按照概要设计和详细设计说明书的要求进行组装,模块组装成系统的方式有两种,分别是(41)。
A.模块接口测试
B.有效性测试
C.路径测试
D.边界测试