用于测量上下颌骨前部的相互关系的头影测量分析法A、Downs分析法B、Steiner分析法C、Tweed分析法D、Wits分析法E、Wylie分析法

题目
用于测量上下颌骨前部的相互关系的头影测量分析法

A、Downs分析法

B、Steiner分析法

C、Tweed分析法

D、Wits分析法

E、Wylie分析法

相似考题

1.头影测量中，SNA角代表A、上颌基骨对下颌的位置关系B、上颌基骨对颅部的位置关系C、上前牙对颅部的位置关系D、下前牙对颅部的位置关系E、以上都不是

2.X线头影测量是正畸治疗的一种辅助手段，因为它提供有关于下列哪些信息a．上、下颌基骨与颅底的关系b．上前牙与上颌基骨的关系c．下前牙与下颌基骨的关系d．上下颌前牙的相互关系e．正畸治疗的进展A、只有abcB、abcdC、adeD、bceE、以上均正确

3.头影测量SNB角大说明()A.上颌后缩B.上颌前突C.下颌前突D.下颌后缩

4.某牙颌面畸形患者，医生为其进行头影测量的结果为∠SNA68°，∠SNB80°。临床诊断应为A、上颌后缩畸形B、上颌前突畸形C、下颌后缩畸形D、下颌前突畸形E、双颌前突畸形如手术矫形，术式应是A、Le Fort Ⅰ型截骨B、下颌支斜行截骨手术C、下颌支矢状劈开术D、下颌前部根尖下骨切开术E、颏成形术

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  • 第1题：

    X线头影测量是正畸治疗的一种辅助手段,因为它提供有关于下列哪些信息 a.上、下颌基骨与颅底的关系 b.上前牙与上颌基骨的关系 c.下前牙与下颌基骨的关系 d.上下颌前牙的相互关系 e.正畸治疗的进展

    A、只有abc

    B、abed

    C、ade

    D、bce

    E、以上均正确


    参考答案：E

  • 第2题：

    下面属于头影测量基准平面的是

    A、腭平面

    B、下颌平面

    C、全颅底平面

    D、前颅底平面

    E、下颌支平面


    参考答案：D

  • 第3题：

    在头影测量分析法中，Tweed分析法主要测量由眼耳平面、下颌平面与下中切牙长轴所组成的代表面部形态结构的颌面三角形的三个角，以提供矫治设计的依据及估计矫治的预后。


    眼耳平面-下颌平面角;下中切牙-眼耳平面角;下中切牙-下颌平面角

  • 第4题：

    头影测量Y轴角小说明

    A、上颌后缩

    B、上颌前突

    C、下颌前突

    D、下颌后缩

    E、双颌前突


    参考答案：C

  • 第5题：

    X线头影测量是正畸治疗的一种辅助手段，因为它提供有关于下列哪些信息
    a．上、下颌基骨与颅底的关系
    b．上前牙与上颌基骨的关系
    c．下前牙与下颌基骨的关系
    d．上下颌前牙的相互关系
    e．正畸治疗的进展

    A.只有abc
    B.bce
    C.ade
    D.abcd
    E.以上均正确

    答案：E
    解析：

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