系统误差可以用( )、空白试验、校正仪器等方法加以校正。
A.对照试验
B.滴定试验
C.多次平行测定
D.二次平行测定
第1题:
A、增加平行测定的次数
B、做空白试验
C、校正仪器
D、做对照试验。
第2题:
系统误差可以用对照试验、空白试验、()等方法加以校正。
A.多次平行测定
B.二次平行试验
C.校正仪器
D.滴定试验
第3题:
在称量分析中,所用试剂含有微量被测组分,应该进行()。
A.对照试验
B.空白试验
C.方法校正
D.仪器校正
第4题:
滴定分析中,若怀疑试剂在放置中失效可通过何种方法检验?( )
A.仪器校正
B.对照分析
C.空白试验
D.无合适方法
第5题:
下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是( )
A.系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等
B.系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正
C.仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差
D.重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差
第6题:
由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。
A.对照分析
B.空白试验
C.增加平行试验
D.校正仪器
第7题:
第8题:
下列关于系统误差产生原因说法不正确的是()。
第9题:
系统误差可以用对照试验、空白试验、()等方法加以校正。
第10题:
滴定分析中,若怀疑试剂失效,可同通过()方法检验。
第11题:
下列哪项方法对减少系统误差帮助不大()。
第12题:
选择合适的分析方法
做空白试验
增加平行测定次数
校正仪器
做对照试验
第13题:
A、对照试验
B、空白试验
C、校正仪器
D、增加平行测定次数
第14题:
在滴定分析中,所用试剂含有微量被测组分,应该进行()。
A.对照试验
B.空白试验
C.校正方法
D.校准仪器
第15题:
为了提高测定的准确度,通常需要消除测定中的系统误差,下列的各种措施中哪一种不能消除测定中的系统误差()。
A.空白试验
B.校正仪器
C.对照试验
D.增加平行测定次数
第16题:
下列方法中( )可以减少分析中的偶然误差。
A.进行空白试验
B.进行对照试验
C.仪器进行校正
D.增加平行测定次数
第17题:
可用下述那种方法减少滴定过程中的偶然误差
A.进行对照试验
B.进行空白试验
C.进行仪器校准
D.进行分析结果校正
第18题:
第19题:
下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是()
第20题:
系统误差可以用()、空白试验、校正仪器等方法加以校正。
第21题:
消除系统误差的方法有()。
第22题:
消除测定中系统误差可以采取()措施
第23题:
可用于减小测定过程中偶然误差的方法是()