第1题:
下列描述正确的是
A、靶倾角θ愈小,X射线强度下降的程度愈小
B、靶倾角θ愈小,X射线强度下降的程度愈大
C、靶倾角θ愈大,X射线强度下降的程度愈大
D、靶倾角θ愈小,X射线强度下降的程度不变
E、X射线强度下降的程度与靶倾角θ无关
第2题:
X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法,是用高能量X射线轰击材料时激发出的次级X射线进行元素分析检测。
第3题:
X射线荧光光谱分析是一种对元素进行定性定量分析的分析方法。它采用高能辐射来使试样激发而产生荧光X射线,将产生的特征X射线光谱经梭拉光栏准直后,导于分光系统进行波长分析或能量分析(即定性分析)和以计数管进行其强度测量,按事先确定出的X射线强度与含量之关系式而求出分析元素的含量(即定量分析)。
第4题:
A、X射线的量和质之和表示X射线的强度
B、量就是X射线光子的数量,质则是X射线光子的能量
C、X射线的量和质之积表示X射线的强度
D、X射线的量和质成反比关系
E、X射线的量和质成正比关系
第5题:
3. 荧光X射线是()
A.X射线激发的连续X射线
B.X射线激发的特征X射线
C.电子激发的连续X射线
D.电子激发的特征X射线