描述CMOS电路中闩锁效应产生的过程及最后的结果？（仕兰微面试题目）
题目
描述CMOS电路中闩锁效应产生的过程及最后的结果？（仕兰微面试题目）
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这就是MOS管的寄生三极管效应。如果电路偶尔中出现了能够使三极管开通的条件，这个寄生的电路就会极大的影响正常电路的运作，会使原本的MOS电路承受比正常工作大得多的电流，可能使电路迅速的烧毁。Latch-up状态下器件在电源与地之间形成短路，造成大电流、EOS（电过载）和器件损坏。 -
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问答题描述CMOS电路中闩锁效应产生的过程及最后的结果。正确答案： Latch-up闩锁效应，又称寄生PNPN效应或可控硅整流器（SCR，Silicon Controlled Rectifier）效应。在整体硅的CMOS管下，不同极性搀杂的区域间都会构成P-N结，而两个靠近的反方向的P-N结就构成了一个双极型的晶体三极管。因此CMOS管的下面会构成多个三极管，这些三极管自身就可能构成一个电路。
这就是MOS管的寄生三极管效应。如果电路偶尔中出现了能够使三极管开通的条件，这个寄生的电路就会极大的影响正常电路的运作，会使原本的MOS电路承受比正常工作大得多的电流，可能使电路迅速的烧毁。Latch-up状态下器件在电源与地之间形成短路，造成大电流、EOS（电过载）和器件损坏。解析： 暂无解析