在使用仪器的时候发现一现象:有液体随气态氢化物、多余的氢气、载气一起进入原子化器,不知改如何解决。我已采取如下方案但还是不行,1增加延迟时间。2增大蠕动泵的转速。

题目

在使用仪器的时候发现一现象:有液体随气态氢化物、多余的氢气、载气一起进入原子化器,不知改如何解决。我已采取如下方案但还是不行,1增加延迟时间。2增大蠕动泵的转速。


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  • 第1题:

    原子化系统的作用是将试样中的待测元素转变成气态的()。

    • A、分子蒸气
    • B、原子蒸气
    • C、离子蒸气
    • D、氢化物

    正确答案:B

  • 第2题:

    使用氢气发生器时制备氢气作载气,可用纯化水。


    正确答案:错误

  • 第3题:

    荧光在使用过程中常出现空白值高的现象。个人总结了一下,有载流存在问题,空白液体存在问题,管道存在污染,光路存在污染,还有就是仪器存在电气噪声。不知道使用原子荧光朋友,有没有碰到空白值高的问题?


    正确答案:1. 会遇到这种问题,常用的方法就是用去离子水多洗几次,有可能会降下来!
    2. 可能是常用酸和试剂本底太高。
    3. 一般情况都是酸的本底值高导致的空白值高,再就是仪器被污染空白值也高。
    4. 那先要看你的空白峰形了。如果不是平线,肯定是空白污染了,包括原子化器污染。如果是平线,估计是灯斑没有调好。
    5. 我发现实验室内温度对原子荧光测汞时的影响非常大,我实验室每年到夏天的时候,原子荧光测汞时的空白值就变高,有一天把实验室里的空调开到最低,开了半天,下午再做的时候发现空白值降下来了。
    6. 空白值高,有可能是载流空白高这时候要检测所用的酸,标准空白高检测所用的试剂。有可能是管道污染。判断是试剂还是管道污染,可以让荧光脱去载流等让其进空气。测空白值若此时空白值降下来就可以判定试剂污染,若不降就是管路污染。拆下整个管路和石英炉管 用优级纯酸10%清洗再装上去。

  • 第4题:

    我在一次测定的时候发现了一个新问题:我用同一种溶液进行测定,其荧光值很不稳定,一会儿大、一会儿小。开始的时候我以为是蠕动泵的原因,但是我调整了蠕动泵的松紧后也出现这种情况。不知道是什么原因?


    正确答案:看看管路是不是堵了;看看氩气是不是漏了;看看炉子的位置是不是正确。

  • 第5题:

    我是一台仪器做Hg和As,原子化器高度为8,看网上写测量Hg调到10,如果这样我每次都要调原子化器高度,高度对测量影响大不大?


    正确答案:高度对汞影响比较大,做汞的话调高一些可有效降低空白,因为汞灯光斑比较发散,读数时部分光分照到原子化器上直接反射到检测器所以汞空白一般都比较高,高度对砷影响小一些。曲线和样品必须在同一个条件下测。

  • 第6题:

    气相色谱使用氢气作载气时最重要的一点是不能有()现象。


    正确答案:漏气

  • 第7题:

    我在测汞的时候发现,标线放置时间超过1小时,就会出现汞的损失。不知道如何解决?但国家盲样(水中汞)。好象没什么损失,怎么处理这个问题?还有加重铬酸钾之后,怎么除色?


    正确答案:1.汞标准溶液配好后最好尽快测定。汞储备液中一般加入重铬酸钾,4摄氏度冰箱内储存。
    2.汞易吸附,比较一下标线的酸体系和标样的酸体系之间的不同。
    3.这与汞的性质很大的关系:易吸附,温度低。
    4.配制储备液时加入重铬酸钾,稀释到测试标液时就不需要加入了,测试时也不需要除色,低浓度的汞标液能存放2-3天。

  • 第8题:

    光驱原来用得好好的,但今天进入Windows98后突然发现,在“我的电脑”中看不到光驱的图标,也无法再使用光驱,该如何解决?


    正确答案: 用什么办法不用重装系统就能把丢失的光驱图标找回来?造成光驱图标丢失的原因有很多种,在Windows98中最为常见,安装一些软件或驱动程序后经常会出现光驱盘符丢失的情况。一般可从以下几个方面进行检查:
    硬件方面
    (1)如果光驱接在第二个IDE口,应在CMOS中检查第二个IDE口是否被关闭,光驱的IDE接口是否被设置成了Disable,最好都设置为Auto。
    (2)检查光驱数据线和电源线是否接好,是否松动,并检查数据线是否接反,如果连接不正确就应重新连接。
    (3)如果新安装了一个光驱,或原来是两个光驱,现在变成了一个,就要检查光驱的跳线设置是否正确。
    (4)如果光驱和硬盘连接在同一根数据线上,应检查光驱和硬盘的跳线设置是否相同,如果相同就容易出现找不到光驱或硬盘的情况,此时只要更改光驱跳线即可。
    (5)检查光驱的数据线及其使用的IDE口是否损坏。如果数据线的第二个IDE口损坏,就会出现光驱丢失的情况。检查时可采取与硬盘互换IDE接口、互换数据线及与硬盘挂接在同一个IDE口等方法,来查看开机时系统能否检测到CD-ROM。经过以上4项检查后,重启计算机,系统即可检测到CD-ROM设备(若仍检测不到,则考虑光驱可能已坏)。
    驱动程序方面
    在Windows98中,安装显卡等设备驱动程序或升级主板驱动程序并重新启动之后,有时就会出现光驱丢失的情况。此时依次打开“控制面板”→“系统”→“设备管理器”,在“硬盘控制器”中会显示有带黄色惊叹号。而在“系统”中的“性能”选项卡中则显示计算机工作在MS-DOS兼容方式,这时可采用以下两种方法来解决:
    (1)在“设备管理器”中删除“硬盘控制器”下的所有设备,然后重新启动计算机。
    (2)重新安装正常使用时的主板等驱动程序,一般就能找回光驱了。
    病毒方面
    因病毒而造成光盘盘符丢失的情况比较少。其突出特征是没有安装任何设置的驱动程序,但从“控制面板”中打开“系统属性”,在“性能”选项卡中显示计算机工作在MS-DOS兼容方式。此时进行杀毒处理,重新启动后可找回光驱。不过要注意,关于计算机工作在MS-DOS兼容方式的原因也可能是由于系统启动时加载了实模式的DOS程序造成的,但这种情况一般不会使光驱丢失。

  • 第9题:

    氢化物、火焰、石墨炉原子吸收: 1.为什么砷、锑、铋,锡,,等用氢化物发生器测定比较好 2.对于上述元素用氢化物和石墨炉测定哪个方法的DL更好? 3.火焰温度2300度左右,而用氢化物测定时一般在800-900度,按理说的话火焰的原子化也可以啊,为什么氢化物的DL更好?


    正确答案:1.一是这些元素的吸收系数小,灵敏度低,这由其光谱特性决定。氢化物发生法起到负集的作用;
    二是易受共存元素干扰,原子化效率低,变成氢化物后易分解,原子化效率高了。
    2.一般氢化物法比石墨炉的DL更好
    3.变成氢化物后易解离,原子化效率高。而火焰法是直接从氧化物分解,很难。

  • 第10题:

    我用的是连续蠕动泵进样的方式,用氢化物测汞,主机都基线是挺稳定的,进蒸馏水基线也是挺稳定的。但是用氢化物做汞的标准曲线,发现汞的Abs值一路飘高,很难稳定下来。载液用的是1%硫酸,硼氰化钾用的是0.5%,汞标准系列 用1%盐酸定容并含有100uL5%高锰酸钾。请问造成这种现象的原因是什么呢?


    正确答案:试验条件的问题,载气和屏蔽气流速,还有积分时间与延迟时间的选择

  • 第11题:

    问答题
    用氢化物发生器,冷原子吸收测汞,我现在做是不扣背景。瓦里安A220的仪器, 这个扣不扣背景影响大吗?

    正确答案: 氢化物进样方式,直接还原出汞蒸气,再者又是冷原子,不需要扣背景
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    问答题
    氢化物、火焰、石墨炉原子吸收: 1.为什么砷、锑、铋,锡,,等用氢化物发生器测定比较好 2.对于上述元素用氢化物和石墨炉测定哪个方法的DL更好? 3.火焰温度2300度左右,而用氢化物测定时一般在800-900度,按理说的话火焰的原子化也可以啊,为什么氢化物的DL更好?

    正确答案: 1.一是这些元素的吸收系数小,灵敏度低,这由其光谱特性决定。氢化物发生法起到负集的作用;
    二是易受共存元素干扰,原子化效率低,变成氢化物后易分解,原子化效率高了。
    2.一般氢化物法比石墨炉的DL更好
    3.变成氢化物后易解离,原子化效率高。而火焰法是直接从氧化物分解,很难。
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    以下是原子吸收原子化器类型的有()

    • A、火焰
    • B、石墨炉
    • C、氢化物发生器
    • D、冷蒸汽发生器

    正确答案:A,B,C,D

  • 第14题:

    使用FPD时发现点火困难,应该采取的办法是()。

    • A、加大氢气流量
    • B、减小氢气流量
    • C、减小载气和补充气的量
    • D、减小空气流速

    正确答案:B

  • 第15题:

    做原子荧光的时候,我的仪器经常会出现“超8V错误”,不知道在哪些情况下会出现?


    正确答案:1.样品中浓度很高,超出仪器的读数范围;
    2.仪器在测量过程中,你老是动其它的东西,比如打开其它软件,或者不停的点报告看结果,点原始记录看浓度,这一点我觉得是原子荧光本身软件的问题,像其它国外进口的仪器在测量时,不管你干什么它都照常工作。
    3.仪器负高压块有问题可能会出现上述情况。

  • 第16题:

    在使用仪器的时候发现一现象:有液体随气态氢化物、多余的氢气、载气一起进入原子化器,不知改如何解决。我已采取如下方案但还是不行,1增加延迟时间。2增大蠕动泵的转速。


    正确答案:1.是不是做无机As?如果样品含量高的话,可以采用减少进样量、减少还原剂量等办法。
    2.加消泡剂,是由于样品有机质太多原因造成的。
    3.是不是你的气液分离器坏了(里面的膜已经破了)?那可以把水跟气分开的呀.或者是你的还原剂的浓度太高了。
    4.酸度是不是太大了?降到2%2。还原剂浓度是不是太大了?KBH4,1%就可以了。样品消解的是否完全,加消泡剂。加大泵速,增向上推进时间,就是进到顺序注射设置窗口,时间加大到8~10S。
    5.你是不是用的液封气液分离器,如果这样那么,加水时注意不要加太多,以不漫过排废口为宜。

  • 第17题:

    我原来做原子荧光载流和样品溶液的酸度都是一样的,最近看到一些文章载流动酸度远远高于样品溶液酸度,不知是如何影响的?


    正确答案:提高载流酸度的一个目的是更好的反应,提供氢气还有就是防止管路对待测元素的吸附,不过呢很多论文是禁不起推敲和验证的,你可以自己调节一下测试条件来验证一下。

  • 第18题:

    虽然N2的导热率小有利于提高灵敏度,但考虑到氢气和氦气与样品的导热率差的因素,分析烃类样品还是多选用氢气和氦气作为载气。()


    正确答案:正确

  • 第19题:

    下述哪一条符合通风机负载特性的特征?()

    • A、负载特性不随电动机转向的改变而改变,但随转速的增大而增大
    • B、负载特性随电动机转向的改变而改变且随转速增加而减小
    • C、负载特性随电动机转向的改变而改变且随转速增加而增大
    • D、负载特性不随电动机转向的改变而改变,但随转速的增加而减小

    正确答案:C

  • 第20题:

    由输出特性曲线可见,当发电机电压一定时,输出电流的变化规律是()。

    • A、随转速升高和负载增加而不断增大
    • B、随转速升高和负载增加而不断减小
    • C、随转速升高和负载增加而增大,且在转速达到一定值后,不再随转速的升高而增大
    • D、随转速升高和负载增加而增大,且在转速达到一定值后,随转速的升高而减小

    正确答案:C

  • 第21题:

    用氢化物发生器,冷原子吸收测汞,我现在做是不扣背景。瓦里安A220的仪器, 这个扣不扣背景影响大吗?


    正确答案:氢化物进样方式,直接还原出汞蒸气,再者又是冷原子,不需要扣背景

  • 第22题:

    单选题
    原子化系统的作用是将试样中的待测元素转变成气态的()。
    A

    分子蒸气

    B

    原子蒸气

    C

    离子蒸气

    D

    氢化物


    正确答案: B
    解析: 暂无解析

  • 第23题:

    问答题
    我用的是连续蠕动泵进样的方式,用氢化物测汞,主机都基线是挺稳定的,进蒸馏水基线也是挺稳定的。但是用氢化物做汞的标准曲线,发现汞的Abs值一路飘高,很难稳定下来。载液用的是1%硫酸,硼氰化钾用的是0.5%,汞标准系列 用1%盐酸定容并含有100uL5%高锰酸钾。请问造成这种现象的原因是什么呢?

    正确答案: 试验条件的问题,载气和屏蔽气流速,还有积分时间与延迟时间的选择
    解析: 暂无解析

  • 第24题:

    单选题
    近年来发展了一种低温原子化法—气相氢化物原子化法,用以测定As、Sb、Bi、Ge、Sn、Se、Te等元素。下列使之生成熔点、沸点低的共价分子型氢化物的还原剂是()
    A

    H2

    B

    Zn

    C

    Na2S2O3

    D

    NaBH4


    正确答案: C
    解析: 暂无解析