技术光波干涉法可以检定测量面的平面度,是利用光波()原理。
第1题:
对分度值为0.02mm的游标卡尺,检定外量爪测量面的平面度用0级样板直尺/刀口尺以()方法检定。
第2题:
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。
第3题:
利用光波干涉原理进行测量是()。
第4题:
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
第5题:
新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以()方法检定。
第6题:
以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶,其工作面的平面度不大于()
第7题:
用平晶检定工作面的平面度,是一种光波干涉法测量,那么产生光波干涉的条件是什么?
第8题:
球面干涉
等倾干涉
等厚干涉
第9题:
对
错
第10题:
比较法
光切法
干涉法
针描法
第11题:
光波法
光干涉法
光条纹法
干涉条纹法
第12题:
第13题:
长边尺寸为1000mm的直角尺,其工作面的平面度或直线度的检定,通常采用的检定方法是()。
第14题:
干涉法是利用()测量表面粗糙度的一种方法。一般用于测量表面粗糙度要求高的表面。
第15题:
外径千分尺平面度用二级平晶按()检定
第16题:
在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。
第17题:
若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()
第18题:
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。
第19题:
比较法
技术光波干涉法
光隙法
第20题:
0.01mm
0.02um
0.03um
第21题:
球面干涉
等倾干涉
等厚干涉
第22题:
用刀口尺以光隙法检定
用平晶以技术光波干涉法分段检定
用自准直仪以节距法检定
第23题:
技术光波干涉法
比较法
光隙法