在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应

题目

在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应

相似考题

1.简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。

2.X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。

3.X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性

4.不影响X荧光分析的主要因素有（）。A、粒度效应B、矿物效应C、基体效应D、光电效应

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  • 第1题：

    X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。

    • A、增大
    • B、减小
    • C、不变
    • D、无变化

    正确答案:B

  • 第2题：

    X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。


    正确答案:正确

  • 第3题：

    X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。


    正确答案:错误

  • 第4题：

    X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。


    正确答案:刚玉

  • 第5题：

    影响X射线强度的主要因素有基体效应、不均匀效应和谱线干扰。


    正确答案:正确

  • 第6题：

    影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的（）、（）两类。


    正确答案:吸收增强效应，物理化学效应

  • 第7题：

    X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。


    正确答案:错误

  • 第8题：

    原子吸收光谱法中的基体效应干扰可用下述哪种方法消除？（）

    • A、加入释放剂
    • B、加入保护剂
    • C、加入缓冲剂
    • D、扣除背景

    正确答案:D

  • 第9题：

    用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）

    • A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近
    • B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近
    • C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大
    • D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大

    正确答案:A

  • 第10题：

    问答题
    简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。

    正确答案： 基体：就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
    造成这一现象的原因主要有：
    吸收—增强效应，在复杂的样品中，元素间的相互影响，引起IK的变化；
    非均匀效应，该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等；
    表面效应，由于表面不平整，大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
    克服或校正基体效应—忽略基体效应
    基体匹配法：使用与未知样基体组成相似的标准样品，常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性（或二次曲线）
    薄试样法：当试样的厚度仅为几百或几千埃时，其基体效应可以忽略
    克服或校正基体效应—减小基体效应
    使用稀释剂将样品进行高倍稀释和（或）添加重吸收剂，使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
    克服或校正基体效应—补偿基体效应
    内标法：在试样内加入已知量的内标元素，该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似；在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间，不可有主量元素的特征谱线存在。
    标准加入法：在未知样中加入一定量的待测元素，比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化；常用于复杂试样中单个元素的测定。
    散射比法：试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似，也就是说，它们的强度比与试样无关；所选的散射线可以是：X光管靶材的相干和非相干散射线，试样对原级谱的连续谱的散射（即背景）；所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线，所选散射线有足够的强度。
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    问答题
    为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应，除了内标法和标准加入法外，还有哪几种方法？

    正确答案： 比较标准法、薄膜法和稀释法
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    原子吸收光谱法中的基体效应干扰可用下述哪种方法消除？（）
    A

    加入释放剂

    B

    加入保护剂

    C

    加入缓冲剂

    D

    扣除背景


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。


    正确答案:错误

  • 第14题：

    X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？


    正确答案: 对分析面的要求是表面平整、纹路一致、光洁度高、无气孔、无裂纹、无夹渣。

  • 第15题：

    X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（）。

    • A、经验系数法
    • B、计算法
    • C、基本参数法
    • D、理论影响系数法

    正确答案:A,C,D

  • 第16题：

    在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。


    正确答案:正确

  • 第17题：

    在原子发射光谱法分析中，选择激发电位相近的分析线对是为了（）

    • A、减少基体效应
    • B、提高激发几率
    • C、消除弧温的影响
    • D、降低光谱背景

    正确答案:C

  • 第18题：

    简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？


    正确答案: 在X射线荧光光谱分析中，分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。基体效应包括吸收和增强两种效应。
    消除基体效应的方法有稀释法、薄膜样品法、吸收校正法、数学处理方法等。

  • 第19题：

    X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）


    正确答案:熔融法

  • 第20题：

    背景吸收和基体效应都与试样的基体有关


    正确答案:正确

  • 第21题：

    用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？


    正确答案:（1）内标物中的元素与被测元素的激发X射线波长相近。即内标物元素的原子序数应与被测元素相近。
    （2）基体对二者的X射线荧光吸收相近，即基体效应可相互抵消。
    （3）原样品中一定不能含有明显数量级的内标元素。

  • 第22题：

    单选题
    用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）
    A

    内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近

    B

    内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近

    C

    内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大

    D

    两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    问答题
    用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？

    正确答案： （1）内标物中的元素与被测元素的激发X射线波长相近。即内标物元素的原子序数应与被测元素相近。
    （2）基体对二者的X射线荧光吸收相近，即基体效应可相互抵消。
    （3）原样品中一定不能含有明显数量级的内标元素。
    解析： 暂无解析

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