下列关于粉体的叙述正确的是
A.直接测定粉体比表面积的常用方法有气体吸附法
B.粉体真密度是粉体质量除以不包颗粒内外空隙的体积求得的密度
C.粉体相应于各种密度,一般情况下松密度≥粒密度>真密度
D.空隙率分为颗粒内空隙率、颗粒间空隙率、总空隙率
E.粉体的流动性对颗粒剂、胶囊剂、片剂等制剂的重量差异影响较大
第1题:
采用哪种方法可测定粉体比表面积( )
A.沉降法
B.筛分法
C.显微镜法
D.库尔特记数法
E.气体吸附法
第2题:
下列关于粉体的叙述正确的是
A、直接测定粉体比表面积的常用方法有气体吸附法
B、粉体真密度是粉体质量除以不包括颗粒内外空隙的体积求得的密度
C、粉体相应于各种密度,一般情况下松密度≥粒密度>真密度
D、空隙率分为颗粒内空隙率、颗粒间空隙率、总空隙率
E、粉体的流动性对颗粒剂、胶囊剂、片剂等制剂的重量差异影响较大
第3题:
A、粒径大的粉体其休止角θ也大
B、粒子表面粗糙的粉体θ小
C、休止角θ<30°粉体流动性好
D、粉体吸湿后θ↓
E、细粉率高的粉体θ↑
第4题:
A、粉体的流动性
B、粉体粒子的比表面积
C、粉体的松密度
D、粉体的孔隙率
E、粉体的休止角
第5题:
采用哪种方法可测定粉体比表面积( )。
A.沉降法
B.筛分法
C.显微镜法
D.库尔特计数法
E.气体吸附法
第6题:
采用气体吸附法可测定得到( )。
A.粉体的松密度
B.粉体的孔隙率
C.粉体的流动性
D.粉体的休止角
E.粉体粒子的比表面积
第7题:
下列哪个方法仅用于测定粉体的比表面积( )。
A.显微镜法
B.库尔特计数法
C.沉降法
D.筛分法
E.气体吸附法
第8题:
有关于粒径及其测定方法叙述正确的是 ( )
A.筛分径又称Stock’S径,是由沉降公式计算所得的直径
B.定方向径,体积等价径,筛分径和有效径等均是粒子大小的常用表示方法
C.筛分法是使用最早、应用最广的粒径测定方法
D.粉体粒子大小是粉体的最基本性质,粉体的大小并不会影响粉体的溶解性
E.等价径是用库尔特计数器测得的粒子的直径
第9题:
第10题:
如何测定粉体的比表面积()
第11题:
下列有关粉体特性的叙述不正确的是()。
第12题:
沉降法
气体吸附法
筛分法
显微镜法
第13题:
关于粉体比表面积,叙述错误的是
A、比表面积可以表征粉体粒子的粗细
B、比表面积可以表征粉体的吸附能力
C、粒子的表面积包括粒子的外表面积和内部的表面积
D、粒子越小,粉体的比表面积越小
E、测定比表面积的方法有气体吸附法
第14题:
粉体比表面积的测定方法
A.筛分法
B.沉降法
C.压汞法
D.气体吸附法
E.库尔特计数法
第15题:
下列方法中可测定粉体比表面积的是( )
A.沉降法
B.筛分法
C.显微镜法
D.库尔特计数法
E.气体吸附法
第16题:
直接测定粉体比表面积的方法是
A、沉降法
B、筛分法
C、显微镜法
D、气体吸附法
E、库尔特记数法
第17题:
A、沉降法
B、筛分法
C、显微镜法
D、气体吸附法
E、库尔特记数法
第18题:
有关粉体的性质叙述错误的是( )。
A.休止角是粉体堆积层的自由斜面与水平面形成的最大角,常用注入法,排出法和倾斜角法测定
B.粉体的比表面积是表征粉体中粒子粗细及固体吸附能力的一种量度
C.比表面积测定方法有气体吸附法和气体透过法,前者用于粒径在2~75μm范围
D.粉体的粒径越大流动性越好,一般加入粗粉改善流动性
E.CRH是微溶性药物的固有特征值,CRH越大则越易吸湿
第19题:
采用下列哪种方法可测定粉体比表面积
A.沉降法
B.筛分法
C.显微镜法
D.库尔特记数法
E.气体吸附法
第20题:
采用气体吸附法可测定( )。
A.粉体松密度
B.粉体孔隙率
C.粉体比表面积
D.粉体休止角
E.粉体粒径
第21题:
第22题:
下列关于粉体润湿性的描述正确的是()
第23题:
直接测定粉体比表面积的常用方法有气体吸附法
粉体真密度是粉体质量除以不包括颗粒内外空隙的体积求得的密度
粉体相应于各种密度,一般情况下松密度≥粒密度>真密度
空隙率分为颗粒内空隙率、颗粒间空隙率、总空隙率
粉体的流动性对颗粒剂、胶囊剂、片剂等制剂的重量差异影响较大
第24题:
对
错