S图的上、下控制限是( )。 A.B.C.D.
第1题:
Levey-Jennings质控图以平均值±3S为 ( )
A、警告限
B、失控限
C、在控限
D、误差限
E、以上均都不是
第2题:
质控图至少应包括( )
A、上控制界限
B、下控制界限
C、中心线
D、允许误差限
E、允许不精密度限
第3题:
下列各项不属于p图控制线公式的是( )。
A.
B.
C.
D.
第4题:
S图的下控制限( )。
A.有时等于0
B.恒等于0
C.不能等于0
D.等于X-A2S
第5题:
第6题:
第7题:
第8题:
常规控制图对过程质量特性值进行测定、记录、评估,从而监察过程是否处于控制状态的一种用统计方法设计的图,图中组成部分有()。
第9题:
上、下控制限
规范限
中心线
点子链
第10题:
上控制限
下控制限
公差
规格限
第11题:
警告限
失控限
在控限
误差限
以上均都不是
第12题:
下辅助线
下控制限
上警告限
上辅助线
第13题:
关于详细设计阶段的工具,以下说法错误的是______。
A) N-S图保证了单入口单出口程序结构
B) PAD图支持自上而下逐步求精的方法
C) 程序流程图可以实现随意的转移控制
D) 伪码(PDL)是一种高级编程语言
A.
B.
C.
D.
第14题:
以下关于程序流程图、N-S盒图和决策表的叙述中,错误的是______。
A.N-S盒图可以避免随意的控制转移
B.N-S盒图可以同时表示程序逻辑和数据结构
C.程序流程图中的控制流可以任意转向
D.决策表适宜表示多重条件组合下的行为
A.
B.
C.
D.
第15题:
使用控制图对具有双侧规格限的质量特性值进行控制,中心线位于规格中心,计算出的过程能力指数Cp>1,下列推断中,正确的有( )。
A.上下规格限与上下控制限重合
B.上规格限位于上控制限上方
C.下规格限位于下控制限上方
D.此时Cpk=Cp
E.此时过程的不合格品率高于1%
第16题:
第17题:
第18题:
第19题:
第20题:
LAL表示()。
第21题:
第22题:
警告限
失控限
在控限
误差限
以上均都不是
第23题:
上控制界限
下控制界限
中心线
允许误差限
允许不精密度限