剔除由不良元器件,零部件或工艺缺陷引起的早期故障的方法是( )。A.环境应力筛选试验B.常规的方法C.目视检查D.任何方法或试验

题目

剔除由不良元器件,零部件或工艺缺陷引起的早期故障的方法是( )。

A.环境应力筛选试验

B.常规的方法

C.目视检查

D.任何方法或试验


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  • 第1题:

    关于环境应力筛选试验的说法,正确的是( )。
    A.环境应力筛选试验是一种加速寿命试验
    B.环境应力筛选试验不能提高产品的固有可靠性
    C.环境应力筛选试验必须在产品真实工作环境应力下进行
    D.环境应力筛选试验是一种超过产品耐受应力的试验


    答案:B
    解析:
    A项,加速寿命试验有如下三种常见的试验类型:①恒定应力加速寿命试验;②步进应力加速寿命试验;③序进应力加速寿命试验。CD两项,环境应力不必准确模拟真实的环境条件,但不应超过产品设计能耐受的极限,其次应根据产品总体要求确定。

  • 第2题:

    可用于剔除不良元器件,减少早期故障的可靠性试验是( )
    A.可靠性增长试验 B.环境应力筛选试验

    C.可靠性测定试验 D.可靠性鉴定试验


    答案:B
    解析:

  • 第3题:

    电子产品的振动筛选项目中,其主要目的是

    A.剔除瞬时短路的机械结构不良的元器件

    B.剔除断路等机械结构不良的元器件

    C.剔除整机中的虚焊等故障

    D.剔除电子元件整形结构不良的元器件


  • 第4题:

    剔除由不良元器件,零部件或工艺缺陷引起的早期故障的方法是( )。
    A.环境应力筛选试验 B.常规的方法
    C.目视检查 D.任何方法或试验


    答案:A
    解析:
    环境应力筛选试验是通过在产品上施加一定的环境应力,以剔除由不良元器件、零部件或工艺缺陷引起的产品早期故障的一种工序或方法。这种早期故障通常用常规的方法和目视检查等是无法发现的。

  • 第5题:

    对电子元件筛选的目的是

    A.对电子元器件施加应力试验,暴露元器件的固有缺陷而不破坏它的完整性

    B.对电子元器件施加应力试验,暴露元器件的固有缺陷有可能破坏它的完整性

    C.对电子元器件进行抽检,剔除不合格的元器件

    D.对电子元器件进行全检,剔除不合格的元器件


    剔除瞬时短路的机械结构不良的元器件;剔除断路等机械结构不良的元器件;剔除整机中的虚焊等故障