第1题:
用计数调整型一次正常抽样方案(80,1)对连续四批产品验收,样本中不合格品数分别为0,1,2,2。下批产品的验收应( )。
A.使用正常检验
B.使用加严检验
C.使用放宽检验
D.停止检验
第2题:
检验员用一次抽样方案(80,0)对连续产品批进行验收,并记录了样本中不合格项、不合格数和不合格品数,利用这些数据可以绘制( )。
A.np图和P图
B.单值一移动极差图
C.均值一极差图
D.c图和μ图
E.排列图
第3题:
第4题:
第5题:
第6题:
第7题:
第8题:
第9题:
利用一次抽样方案(80,0)对某工序生产的产品进行连续验收,并记录了每批产品样本中出现的不合格品数,利用多批检验记录可以用来()。
第10题:
批中允许的最大不合格品数
批中允许的最大合格品数
样本中允许的最大不合格品数
样本中允许的最大合格品数
第11题:
判断下批产品是否接收
分析过程不合格品率的波动情况
估计过程平均不合格品率
分析产品主要质量问题
分析产生产品质量问题的主要原因
第12题:
批的不合格品率
样本中的不合格品数
批的不合格百分数
样本中的不合格数
批的每百单位产品不合格数
第13题:
计数抽样方案用( )判断检验批是否可接收。
A.批的不合格品率
B.样本中的不合格品数
C.批的不合格百分数
D.样本中的不合格数
E.批的每百单位产品不合格数
第14题:
电子元器件出厂检验部门从每批产品中抽取100件进行检验,并记录了不合格品数,利用这些数据可以绘制( )对生产线进行监控。
第15题:
第16题:
第17题:
第18题:
第19题:
第20题:
使用计数调整型一次正常抽样方案(125,1),对批量N=1000的产品批进行验收。若样本中的不合格品数d=2,则()。
第21题:
接收该批产品
需继续抽样进行判断
不接收该批产品
对产品批进行降级、报废等处理
对样本再检验一次
第22题:
正常检验
加严检验
放宽检验
特宽检验
第23题:
不接收该批产品
再抽一个样本进行判断
再使用加严检验对该批产品判定
改用二次抽样方案对该进行判断