涡流检测中阻抗Z的代数表示方式（）。A．Z=R-jXB．Z=X-jRC．Z=R+jXD．Z=X+jR

题目

涡流检测中阻抗Z的代数表示方式（）。

A．Z=R-jX

B．Z=X-jR

C．Z=R+jX

D．Z=X+jR

相似考题

1.涡流式位移传感器是利用 ______ 效应将被测量变换为传感器线圈阻抗 Z 变化的一种装置。

2.简述涡流效应并说出涡流传感器高频线圈的等效阻抗Z的影响因素。

3.在研究任何一种故障的正序电流（电压）时，只需在正序网络中的故障点附加一个阻抗，设负序阻抗为Z2，零序阻抗为Z0，则单相接地附加阻抗为（）。A、Z2+Z0B、Z2C、Z2*Z0/(Z2+Z0)

4.若Z0、Z1、Z2分别表示零序、正序、负序阻抗,Z1=Z2,ZJ和Zm表示A、B、C坐标系统中的自阻抗和互阻抗,则Z0=ZJ＋2Zm。()此题为判断题(对，错)。

参考答案和解析
Z=R+jX
更多“涡流检测中阻抗Z的代数表示方式（）。”相关问题

  • 第1题：

    简述涡流检测时，有哪些主要因素会影响线圈阻抗？


    正确答案:涡流检测时，影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来：1－η＋μrμ
    相对磁导率；μeffeff式中：η--填充系数；μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/（2πμσα），α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径（或半径）描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率（分析参见电导率分析），而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。

  • 第2题：

    涡流检测选择频率时，应使检测因素和干扰因素两者阻抗变化之间的相位差（）.


    正确答案:较大

  • 第3题：

    涡流检测是根据检测线圈的阻抗变化来检测试件的材质变化。


    正确答案:正确

  • 第4题：

    钢轨阻抗，用Z表示，单位是Ω／km。它包括钢轨本身的阻抗及钢轨接头处的阻抗，钢轨接头处的阻抗，则包括鱼尾板及导接线的阻抗和它们的接触电阻。


    正确答案:正确

  • 第5题：

    电力系统中，f点发生两相经过渡阻抗Zf短路时，正序增广网络中附加阻抗ZΔ为（）。

    • A、ZΣ（2）+ZΣ（0）+Zf
    • B、ZΣ（2）+Zf
    • C、ZΣ（0）+Zf

    正确答案:B

  • 第6题：

    单一电阻元件的正弦交流电路中，复阻抗Z=（）；单一电感元件的正弦交流电路中，复阻抗Z=（）；单一电容元件的正弦交流电路中，复阻抗Z=（）；电阻电感相串联的正弦交流电路中，复阻抗Z=（）；电阻电容相串联的正弦交流电路中，复阻抗Z=（）；电阻电感电容相串联的正弦交流电路中，复阻抗Z=（）。


    正确答案:R；jXL；－jXC；R＋jXL；R－jXC；R＋j（XL－XC）

  • 第7题：

    若Z0、Z1、Z2分别表示零序、正序、负序阻抗，Z1=Z2，ZL和Zm表示A、B、C坐标系统中的自阻抗和互阻抗，则Z1=Z2=ZL-Zm


    正确答案:正确

  • 第8题：

    如果用表示Z1表示测量阻抗，Z2表示整定阻抗，Z3表示动作阻抗。线路发生短路，不带偏移特性距离保护动作，则说明（）。


      正确答案:B

    • 第9题：

      设Z1、Z0分别表示线路的正序、零序阻抗，对于接于相电压、相电流用以测量单相接地故障的阻抗继电器，其Zj=UФ/Iф（HK），式中的补偿系数为（）。


      正确答案:K=Z0—Z1/3Z1

    • 第10题：

      问答题
      简述涡流效应并说出涡流传感器高频线圈的等效阻抗Z的影响因素。

      正确答案： 涡电流效应：金属板置于一个线圈附近，相互间距为δ，当线圈中有高频交变电流i通过时，产生交变磁通φ，此磁通通过邻近金属板，金属板表层产生感应电流，称为涡电流或涡流。
      涡流传感器的高频线圈等效阻抗与金属板的电阻率、磁导率、线圈的激磁频率及线圈与金属板的距离等有关。
      解析： 暂无解析

    • 第11题：

      单选题
      声阻抗的理解正确的是（　　）。
      A

      声阻抗是表示介质声学特性的一个重要物理量

      B

      声阻抗（Z）等于介质的密度（P）和声速（C）的乘积，即Z＝P×C

      C

      声阻抗的单位是瑞利

      D

      在人体各器官中，气体的声阻抗最小

      E

      以上描述都正确


      正确答案： E
      解析：
      声阻抗是表示介质声学特性的一个重要物理量。声阻抗（Z）等于介质的密度（P）和声速（C）的乘积，即Z＝P×C，当P的单位是g/cm3时，声阻抗的单位是瑞利。在人体各器官中，气体声阻抗最小，骨骼声阻抗最大。

    • 第12题：

      问答题
      简述涡流检测时，有哪些主要因素会影响线圈阻抗？

      正确答案： 涡流检测时，影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来：1－η＋μrμ
      相对磁导率；μeffeff式中：η--填充系数；μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/（2πμσα），α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径（或半径）描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率（分析参见电导率分析），而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。
      解析： 暂无解析

    • 第13题：

      表示阻抗的常用符号是（）.

      • A、Z；
      • B、XL；
      • C、R；
      • D、D.X

      正确答案:A

    • 第14题：

      计算涡流试验线圈阻抗的公式是什么？（）

      • A、Z=2πf·L
      • B、Z=XL+R
      • C、Z=（XL+R）
      • D、Z=（XL+R）1/2221/2

      正确答案:D

    • 第15题：

      涡流检测中，试验线圈阻抗增加是（）造成的。

      • A、频率增加
      • B、电阻增加
      • C、电流增加
      • D、电感增加

      正确答案:A

    • 第16题：

      涡流检测中探头线圈有几种方式？


      正确答案:三种：穿过式线圈、点探头、阵列式探头。

    • 第17题：

      进行涡流检测时，根据下列（）种参数的变化可检出试件表面缺陷？

      • A、检测线圈的阻抗
      • B、激励信号的频率
      • C、检测线圈的电压
      • D、A或C

      正确答案:D

    • 第18题：

      R、L、C串联电路中，电路的等效阻抗等于串联元件阻抗之代数和。


      正确答案:错误

    • 第19题：

      在研究任何一种故障的正序电流（电压）时，只需在正序网络中的故障点附加一个阻抗，设负序阻抗为Z2，零序阻抗为Z0，则两相短路接地故障附加阻抗为（）。

      • A、Z2+Z0
      • B、Z2
      • C、Z2*Z0/(Z2+Z0)

      正确答案:C

    • 第20题：

      若Z0、Z1、Z2分别表示零序、正序、负序阻抗，Z1=Z2，ZL和Zm表示A、B、C坐标系统中的自阻抗和互阻抗，则Z0=ZL+2Zm


      正确答案:正确

    • 第21题：

      问答题
      涡流检测中探头线圈有几种方式？

      正确答案： 三种：穿过式线圈、点探头、阵列式探头。
      解析： 暂无解析

    • 第22题：

      判断题
      涡流检测是根据检测线圈的阻抗变化来检测试件的材质变化。
      A

      对

      B

      错


      正确答案： 对
      解析： 暂无解析

    • 第23题：

      单选题
      涡流检测中，试验线圈阻抗增加是（）造成的。
      A

      频率增加

      B

      电阻增加

      C

      电流增加

      D

      电感增加


      正确答案： C
      解析： 暂无解析

    • 第24题：

      填空题
      涡流检测选择频率时，应使检测因素和干扰因素两者阻抗变化之间的相位差（）.

      正确答案： 较大
      解析： 暂无解析

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