应变测量试验时,试件处在一定的温度环境中,试件材料的体积一般不会随温度的变化而发生变化。()此题为判断题(对，错)。
题目
应变测量试验时,试件处在一定的温度环境中,试件材料的体积一般不会随温度的变化而发生变化。()
此题为判断题(对，错)。
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第1题：
环境温度改变引起金属应变片电阻值变化的原因包括（）
A．电阻丝温度系数
B．电阻丝与被测试件材料的线膨胀系数不同
C．应变片疲劳
D．以上都对
错误 -
第2题：
应变式传感器产生温度误差的原因有以下两点，敏感栅金属丝电阻本身随温度变化以及试件材料与应变丝材料线膨胀系数不一，应变丝产生附加形变而造成的电阻变化。
试件材料与应变丝材料的线膨胀系数不一，使应变丝产生附加变形而造成的电阻变化。 -
第3题：
【单选题】应变式传感器的温度误差产生的主要原因:（)
A．应变式温度传感器件的温度系数变化。
B．应变式温度传感器件的测量部分引起的。
C．应变式温度传感器件对温度应变不敏感引起的。
D．试件材料与应变丝材料的线膨胀系数不一, 使应变丝产生附加变形而造成的电阻变化。
D -
第4题：
12、应变片的温度误差主要和下列哪些因素有关？（）
A．应变片电阻丝的温度系数
B．试件材料的温度系数
C．应变片电阻丝材料的线膨胀系数
D．试件材料的线膨胀系数
A -
第5题：
【多选题】应变式传感器的温度误差产生的主要原因:（)
A．应变式温度传感器件的温度系数变化。
B．应变式温度传感器件的测量部分引起的。
C．敏感栅金属丝电阻本身随温度发生变化。
D．应变式温度传感器件对温度应变不敏感引起的。
E．试件材料与应变丝材料的线膨胀系数不一, 使应变丝产生附加变形而造成的电阻变化。
试件材料与应变丝材料的线膨胀系数不一, 使应变丝产生附加变形而造成的电阻变化。