用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。A、面积大的,当量也一定大B、面积大的,当量不一定比面积小的大C、面积大的,当量反而比面积小的小D、它们的当量相等

题目

用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。

A、面积大的,当量也一定大

B、面积大的,当量不一定比面积小的大

C、面积大的,当量反而比面积小的小

D、它们的当量相等


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  • 第1题:

    在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,反射波幅也随之增高。()

    此题为判断题(对,错)。


    参考答案:错误

  • 第2题:

    由于轨底三角区横向裂纹的取向与37°探头的声束不垂直,所以37°探头不能发现该缺陷。()

    此题为判断题(对,错)。


    正确答案:×

  • 第3题:

    方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()

    A.平行且靠近探测面
    B.与声束方向平行
    C.与探测面成较大角度
    D.平行且靠近底面

    答案:C
    解析:

  • 第4题:

    声束与缺陷主反射面所成的角度称为( )。

    A.入射角

    B.折射角

    C.缺陷取向

    D.反射角


    正确答案:C

  • 第5题:

    在检验工件时若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波,若底面回波的高度剧烈下降,引起这种情况的原因可能是():

    A.大而平的缺陷与入射声束取向不良
    B.疏松
    C.晶粒粗大
    D.以上都是

    答案:D
    解析: