对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。A对B错

第1题：

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。

A对

B错

第2题：

当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

A对

B错

第3题：

断路器的额定绝缘电压（U1）是制造厂规定的电压值，此值与介电试验电压以及爬电距离有关。除非另有规定，额定绝缘电压是断路器的最大额定电压值，在任何情况下，最大额定电压不应超过额定绝缘电压。

第4题：

当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

第5题：

tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）。

• A、良好绝缘
• B、绝缘中存在气隙
• C、绝缘受潮

第6题：

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。

第7题：

关于电容型电流互感器高压介质损测量，下列说法正确的是（）。

• A、绝缘良好的设备tgδ值不随试验电压的升高而偏大，只在接近额定电压时才略微增加
• B、绝缘严重受潮的设备在较低的电压下，tgδ值就较大，随着电压的升高tgδ值增大
• C、发生气隙局放设备达到局放起始放电电压时，tgδ急剧增高
• D、绝缘中含有离子型杂质的设备，tgδ随电压上升而下降

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

对于额定电压为35kV及以上的设备，测试tanδ时一般升压至10kV。

A对

B错

第14题：

当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。

第15题：

电流互感器主绝缘tanδ试验电压为10kV，末屏对地tanδ试验电压为2kV（）

第16题：

对于额定电压为35kV及以上的设备，测试tanδ时一般升压至10kV。

第17题：

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。

• A、升高
• B、降低
• C、基本不变

第18题：

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。

第19题：

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：