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  • 第1题:

    下列关于自动曝光控制的叙述,错误的是

    A.可采用荧光体型探测器

    B.可采用电离室型探测器

    C.可减少人为条件选择不当的失误

    D.可自动切断X线的产生

    E.多在一钮制设备中使用


    正确答案:E

  • 第2题:

    CR中可记录与读出X线影像信息的载体是

    A、胶片

    B、磁盘

    C、IP板

    D、荧光屏

    E、平板探测器


    参考答案:C

  • 第3题:

    无损检验可探测内部和外部缺陷,生产中大多是进行 。


    正确

  • 第4题:

    超声波探伤是利用()探测材料内部缺陷的无损检验法。


    参考答案:超声波

  • 第5题:

    CR中可记录与读出X线影像信息的载体是

    A.荧光屏
    B.胶片
    C.磁盘
    D.IP板
    E.平板探测器

    答案:D
    解析: