更多“请阐明X射线荧光光谱用作元素定性分析和定量分析的基本原理。”相关问题
  • 第1题:

    X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。


    正确答案:错误

  • 第2题:

    X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。


    正确答案:正确

  • 第3题:

    X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。


    正确答案:正确

  • 第4题:

    X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()

    • A、定性分析
    • B、定量分析
    • C、都不是

    正确答案:A,B

  • 第5题:

    波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。

    • A、分光晶体
    • B、光栅
    • C、棱镜
    • D、反射镜

    正确答案:A

  • 第6题:

    在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。


    正确答案:正确

  • 第7题:

    由X射线管发出的一次X射线激发样品,使样品所含元素辐射出二次X射线,即X射线()。

    • A、光子
    • B、荧光
    • C、光谱
    • D、线束

    正确答案:B

  • 第8题:

    X射线荧光光谱仪上,采用W靶X射线管适于分析重元素:Cr靶X射线管适于分析轻元素,而()靶X射线管则在一定程度上,却对轻、重元素的分析都能兼顾。


    正确答案:Rh

  • 第9题:

    简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应?如何消除?


    正确答案: 在X射线荧光光谱分析中,分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。基体效应包括吸收和增强两种效应。
    消除基体效应的方法有稀释法、薄膜样品法、吸收校正法、数学处理方法等。

  • 第10题:

    试从能级跃迁机理比较原子发射光谱、原子荧光光谱和X-射线荧光光谱的异同。


    正确答案:首先都是发射光谱,原子发射光谱和原子荧光光谱都是外层电子的能级跃迁;而X-射线荧光光谱是原子内层电子的能级跃迁;原子荧光光谱和X-射线荧光光谱都是光致发光,是二次发光过程,所以发出的谱线称为荧光光谱。

  • 第11题:

    判断题
    X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    问答题
    为什么说元素的X-射线荧光光谱具有很强的特征性?

    正确答案: X-射线荧光光谱来自原子内层电子跃迁,与元素的化学状态无关。内层轨道离原子核较近,所以X-射线荧光谱线波长强烈地依从于原子序数Z,并遵守莫塞莱定律。所以说说元素的X-射线荧光光谱具有很强的特征性。
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    手持式X射线荧光光谱仪的镀层模式,是检测镀层元素含量的。


    正确答案:错误

  • 第14题:

    X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤,即()、()、(),对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录,根据记录数据得出定性、定量分析结果。


    正确答案:样品制备;激发X射线荧光;X射线荧光的分光

  • 第15题:

    波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。


    正确答案:正确

  • 第16题:

    可以用X射线荧光光谱仪测定的元素有()。

    • A、硫
    • B、钡
    • C、锂
    • D、铝

    正确答案:A,B,D

  • 第17题:

    X射线荧光光谱分析中,X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。


    正确答案:正确

  • 第18题:

    X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。

    • A、谱线
    • B、波长
    • C、特征线
    • D、强度

    正确答案:B,D

  • 第19题:

    X射线荧光光谱法是对元素的()进行分析。

    • A、特征光谱
    • B、带状光谱
    • C、连续光谱

    正确答案:A

  • 第20题:

    X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用()和()来接受被测元素特征光谱信号的。


    正确答案:记数器;光电倍增管

  • 第21题:

    X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。


    正确答案:正确

  • 第22题:

    为什么说元素的X-射线荧光光谱具有很强的特征性?


    正确答案:X-射线荧光光谱来自原子内层电子跃迁,与元素的化学状态无关。内层轨道离原子核较近,所以X-射线荧光谱线波长强烈地依从于原子序数Z,并遵守莫塞莱定律。所以说说元素的X-射线荧光光谱具有很强的特征性。

  • 第23题:

    问答题
    利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么?X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍(B)—铀(U),为什么不能分析轻元素(氢、氦和锂)?

    正确答案: 利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是莫塞莱定律、布拉格定律和朗伯比尔定律。
    因为X射线荧光光谱分析是利用元素的特征X射线,而氢和氦原子只有K层电子,不能产生特征X射线,所以无法进行荧光光谱分析。锂原子虽然能产生X射线,但产生的特征X射线波长太长,通常无法进行检测。
    解析: 暂无解析

  • 第24题:

    问答题
    简述X射线荧光光谱分析的基本原理和主要用途。

    正确答案: (1)荧光X射线的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。测出荧光X射线的波长或能量,就可以知道元素的种类(定性分析基础)。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系(定量分析基础)。
    (2)定性分析:根据荧光X射线的波长或能量可以确定元素的组成。定量分析:定量分析的依据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Wi成正比。
    解析: 暂无解析