比较两条单色的X射线的谱线时注意到，谱线A在一个晶体的光滑面成30°的掠射角处给出第一级反射极大。已知谱线B的波长为0.097nm。谱线B在与同一晶体的同一光滑面成60°的掠射角处，给出第三级的反射极大，则谱线A的波长为（　　）nm。A．0.148 B．0.158 C．0.168 D．0.178

第1题：

第2题：

第3题：

在发射光谱进行谱线检查时，通常采用与标准光谱比较的方法来确定谱线位置，通常作为标准的是（）

• A、铁谱
• B、铜谱
• C、碳谱
• D、氢谱

第4题：

在光栅光谱中，下列描述正确的是（）

• A、级次越高，各种波长谱线展得越开，谱线越宽
• B、级次越高，各种波长谱线展得越开，谱线越窄
• C、级次越高，各种波长谱线越展不开，谱线越窄
• D、级次越高，各种波长谱线越展不开，谱线越宽

第5题：

用A＝500nm的光垂直射在2500条／cm刻痕的平面衍射光栅上，则第四级谱线的衍射角应为（）。

• A、30°
• B、45°
• C、60°
• D、90°

第6题：

下列分析线描述错误的是（）

• A、分析线在测定某元素的含量或浓度时，所指定的某一特征波长的谱线，一般是从第一激发态状态下跃迁到基态时，所发射的谱线。
• B、每一种元素都有一条或几条最强的谱线，即这几个能级间的跃迁最易发生，这样的谱线称为灵敏线，最后线也就是最灵敏线。
• C、电子从基态跃迁到能量最低的激发态时要吸收一定频率的光，它再跃迁回基态时，则发射出同样频率的光，叫共振发射线，简称共振线。
• D、每种元素均有数条谱线，由于在实际的光谱分析工作中不可能测量所有谱线，因此，应该从中选择灵敏度最高的共振原子线（也即最灵敏线）作为分析线。

第7题：

波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的（）现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的（）谱线进行测定。

• A、反射
• B、衍射
• C、折射
• D、特征

第8题：

怎样使光栅衍射的谱线的宽度变小和谱线间的距离变大？（光的波长不变）

第9题：

用波长为λ的单色平行光垂直入射在一块多缝光柵上，其光柵常数d=3μm，缝宽a =1μm，则在单缝衍射的中央明条纹中共有（）条谱线（主极大）。

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

答案：A

解析：

第14题：

X射线透过滤线板后（）

• A、强度增加，谱线范围变窄； 
• B、能量增加，谱线范围变宽； 
• C、射线变硬，谱线范围变宽； 
• D、射线变硬，谱线范围变窄； 
• E、射线变软，谱线范围变窄；

第15题：

波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。

第16题：

某元素的特征光谱中含有波长λ1=450nm和λ2=750nm的光谱线，在光栅光谱中，这两种波长的谱线有重叠现象，重叠处的谱线λ2主极大的级数将是（）

• A、2，3，4，5，…
• B、2，5，8，11，…
• C、2，4，6，8，…
• D、3，6，9，12，…

第17题：

波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感，温度变化会引起晶体面间距值的变化，导致谱线的位移。

第18题：

波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。

• A、样品
• B、晶体
• C、选择性地
• D、反射

第19题：

波长为253.6nm和546.1nm两条谱线的瑞利散射强度之比为（）

第20题：

X射线通过滤线板后：（）  

• A、强度增加，谱线范围变窄；
• B、能量增加，谱线范围变宽；
• C、射线变硬，谱线范围变宽；
• D、射线变硬，谱线范围变窄。

第21题：

在氢原子光谱中，赖曼系（由各激发态跃迁到基态所发射的各谱线组成的谱线系）的最短波长的谱线所对应的光子能量为（）eV；巴耳末系的最短波长的谱线所对应的光子的能量为（）eV。

第22题：

第23题：