二次电子的产额随样品的倾斜度而变化，倾斜度最小，二次电子产额()。A、最少B、最多C、中等

题目

二次电子的产额随样品的倾斜度而变化，倾斜度最小，二次电子产额()。

A、最少

B、最多

C、中等

相似考题

1.透射电镜的反差取决于样品对的散射能力A、二次电子B、入射电子C、样品质量厚度D、样品重量E、样品性质

2.背散射电子产额δBE随原于序数z增大而增加。

3.17、样品表面二次电子产额较高的位置为 、 和 。

4.在扫描电子显微镜中，二次电子像分辨率将随加速电压减小而（）；背散射电子的产额随样品原子序数增大而（）；

更多“二次电子的产额随样品的倾斜度而变化,倾斜度最小,二次电子产额()。A、最少B、最多C、中等 ”相关问题

  • 第1题：

    工人月工资y（元）随劳动成产额x（千元）变化的回归直线方程为y=60+90x，下列判断正确的是

    A．劳动生产额为1000元时，工资为50元

    B．劳动生产额提高1000元时，工资提高150元

    C．劳动生产额提高1000元时，工资提高90元

    D．劳动生产额为1000元时，工资为90元


    劳动生产 额 提高 1000 元时，工资提高 90 元

  • 第2题：

    4、背散射电子产额δBE随原于序数z增大而增加。


    错误

  • 第3题：

    扫描电镜中二次电子像衬度主要是由于样品表面高低起伏造成的


    形貌衬度

  • 第4题：

    SEM利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态。


    对

  • 第5题：

    背散射电子的性质是（）

    A．产生范围在表层100~1000 nm内

    B．产额随原子序数增加而增加

    C．可用于样品的表面形貌分析

    D．可用于样品的表面成分分析


    产生范围在表层 100~1000 nm 内;产额随原子序数增加而增加;可用于样品的表面形貌分析;可用于样品的表面成分分析

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