红外热像检测中，对于一般缺陷的相关描述，正确的是（）。(A)指设备存在过热，有一定温差，温度场有一定梯度，但不会引起事故的缺陷 (B)一般要求记录在案，注意观察其缺陷的发展，利用停电机会检修，有计划地安排试验检修消缺 (C)当发热点温升值小于10K时，不宜采用附录D的规定确定设备缺陷的性质 (D)电压致热型设备的缺陷一般定为一般及以上的缺陷
题目
红外热像检测中，对于一般缺陷的相关描述，正确的是（）。
(A)指设备存在过热，有一定温差，温度场有一定梯度，但不会引起事故的缺陷 (B)一般要求记录在案，注意观察其缺陷的发展，利用停电机会检修，有计划地安排试验检修消缺 (C)当发热点温升值小于10K时，不宜采用附录D的规定确定设备缺陷的性质 (D)电压致热型设备的缺陷一般定为一般及以上的缺陷
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- A、-25
- B、-15
- C、-5
- D、5
正确答案:D -
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红外热像检测，对不同类型的设备采用相应的判断方法、判断依据，并由热像特点进一步分析设备的缺陷特征，判断出设备的缺陷类型。
正确答案:正确 -
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红外热像检测中检测数据分析与处理时，对不同类型的设备采用相应的（）和（），并由热像特点进一步分析设备的缺陷特征，判断出设备的缺陷类型(A)判断规则 (B)判断方法 (C)判断标准 (D)判断依据答案：B,D解析： -
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红外热像检测一般检测要求环境温度不宜低于（ ），一般按照红外热像检测仪器的最低温度掌握。5C $;$10C $;$15C $;$20C答案：A解析： -
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红外热像检测中，环境温度不宜低于（），一般按照红外热像检测仪器的最低温度掌握4C＄:＄5C＄:＄6C ＄:＄7C答案：B解析： -
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《红外热像检测细则》中规定，当缺陷是由两种或两种以上因素引起的，应综合判断缺陷性质。对于（）引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。(A)磁场 (B)剩磁 (C)漏磁 (D)偏磁答案：A,C解析： -
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- B、这类缺陷应立即安排处理
- C、对电流致热型设备，应采取必要的措施，如加强检测等，必要时降低负荷电流
- D、电压致热型设备的缺陷一般定为严重及以上的缺陷
正确答案:A,C,D