关于装备伪影的说法，正确的是（）A、卷褶伪影属于装备伪影B、与主磁场强度不均匀有关C、与受检者不自主的生理运动有关D、与装机时机架内遗留的金属物有关E、SE序列T加权或质子密度加权像易出现

题目

关于装备伪影的说法，正确的是（）

  • A、卷褶伪影属于装备伪影
  • B、与主磁场强度不均匀有关
  • C、与受检者不自主的生理运动有关
  • D、与装机时机架内遗留的金属物有关
  • E、SE序列T加权或质子密度加权像易出现
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1.上腹部横轴位SE序列质子密度加权像见数个环形高信号覆盖全图像，可能为：()。A.呼吸运动伪影B.血管搏动伪影C.化学位移伪影D.卷褶伪影E.金属异物伪影

2.上腹部横断面SE序列质子加权像，近中线位置有前后走向的一连串圆形高信号影重叠，最可能为：()。A、呼吸运动伪影。B、血管搏动伪影。C、化学位移伪影。D、卷褶伪影。E、金属异物伪影。

3.磁共振的装备伪影包括（）A、化学位移伪影B、卷褶伪影C、生理运动伪影D、金属伪影E、磁敏感性伪影

4.有关化学位移伪影的叙述，下列哪一项是错误的( )A.化学位移伪影是一种装备伪影B.化学位移伪影与呼吸运动有关C.化学位移伪影与主磁场强度有关D.化学位移伪影与观察视野有关E.化学位移伪影可以通过改变相位编码的方向加以识别

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  • 第1题：

    与交叉对称信号伪影的无关的是（）

    • A、属装备伪影
    • B、SE序列T2加权或质子密度加权像易出现
    • C、B0不均匀
    • D、T2对B0不均匀敏感
    • E、受RF频率影响

    正确答案:E

  • 第2题：

    与交叉对称信号伪影无关的因素为（）

    • A、属装备伪影
    • B、SE序列T2加权或质子密度加权像易出现
    • C、Bo不均匀
    • D、T2对Bo不均匀敏感
    • E、受RF频率影响

    正确答案:E

  • 第3题：

    上腹部横轴位SE序列质子密度加权像见数个环形高信号覆盖全图像，可能为（）

    • A、呼吸运动伪影
    • B、血管搏动伪影
    • C、化学位移伪影
    • D、卷褶伪影
    • E、金属异物伪影

    正确答案:A

  • 第4题：

    有关化学位移伪影的叙述，下列哪项是错误的（）

    • A、化学位移伪影是一种装备伪影
    • B、化学位移伪影与呼吸运动无关
    • C、化学位移伪影与主磁场强度有关
    • D、化学位移伪影与观察视野有关
    • E、化学位移伪影可以通过改变相位编码来消除

    正确答案:D

  • 第5题：

    单选题
    上腹部横轴位SE序列质子密度加权像见数个环形高信号覆盖全图像，可能为（）
    A

    呼吸运动伪影

    B

    血管搏动伪影

    C

    化学位移伪影

    D

    卷褶伪影

    E

    金属异物伪影


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第6题：

    多选题
    磁共振的装备伪影包括（　　）。
    A

    化学位移伪影

    B

    卷褶伪影

    C

    生理运动伪影

    D

    金属伪影

    E

    磁敏感性伪影


    正确答案： C,E
    解析：
    根据伪影产生的原因，可分为装备伪影、运动伪影和金属异物伪影。其中装备伪影是指机器设备系统本身产生的伪影，包括：化学位移伪影、卷褶伪影、截断伪影、部分容积效应、层间干扰、磁敏感性伪影。

  • 第7题：

    多选题
    关于装备伪影的说法，正确的是（）
    A

    卷褶伪影属于装备伪影

    B

    与主磁场强度不均匀有关

    C

    与受检者不自主的生理运动有关

    D

    与装机时机架内遗留的金属物有关

    E

    SE序列T加权或质子密度加权像易出现


    正确答案： B,C
    解析： 本题考查磁共振成像伪影的相关知识。根据伪影产生的原因，可分为装备伪影、运动伪影和金属异物伪影。装备伪影是指机器设备系统本身产生的伪影。它包括机器主磁场强度、磁场均匀度、软件质量、电子元件、电子线路以及其附属设备产生的伪影。装备伪影包括化学位移伪影、卷褶伪影、截断伪影、部分容积效应、层间干扰及磁敏感伪影。

  • 第8题：

    单选题
    与交叉对称信号伪影无关的是（　　）。
    A

    属装备伪影

    B

    SE序列T2加权或质子密度加权像易出现

    C

    B0不均匀

    D

    T2对B0不均匀敏感

    E

    受RF频率影响


    正确答案： B
    解析：
    A项，交叉对称信号伪影是磁场不均匀使图像出现的异常信号，其属于装备伪影。BD两项，常出现于自旋回波脉冲序列T2加权像或质子密度加权像，T2对B0不均匀敏感。C项，主要因磁场的不均匀性引起，低场强的设备比高场强的设备更易出现，主要表现为图像在对角线方向呈对称型低信号。在刚开机时易发生伪影，随着开机时间的延长，磁体内匀场线圈逐渐恢复工作，随着磁体均匀度的提高，此类伪影即可消除。

  • 第9题：

    与交叉对称信号伪影无关的是（）

    • A、属装备伪影
    • B、SE序列T2加权或质子密度加权像易出现
    • C、B0不均匀
    • D、T2对B0不均匀敏感
    • E、受RF频率影响

    正确答案:E

  • 第10题：

    有关化学位移伪影的叙述，下列正确的是（）

    • A、化学位移伪影是一种装备伪影
    • B、化学位移伪影与呼吸运动有关
    • C、化学位移伪影与主磁场强度有关
    • D、化学位移伪影以观察视野有关
    • E、化学位移伪影可以通过改变相位编码的方向加以识别

    正确答案:A,B,C,E

  • 第11题：

    有关化学位移伪影的叙述，下列哪一项是错误（）。

    • A、化学位移伪影是一种装备伪影
    • B、化学位移伪影与呼吸运动有关
    • C、化学位移伪影与主磁场强度有关
    • D、化学位移伪影与观察视野有关
    • E、化学位移伪影可以通过改变相位编码的方向加以识别

    正确答案:D

  • 第12题：

    多选题
    有关化学位移伪影的叙述，下列正确的是（）
    A

    化学位移伪影是一种装备伪影

    B

    化学位移伪影与呼吸运动有关

    C

    化学位移伪影与主磁场强度有关

    D

    化学位移伪影以观察视野有关

    E

    化学位移伪影可以通过改变相位编码的方向加以识别


    正确答案： E,D
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    单选题
    与交叉对称信号伪影的无关的是（）
    A

    属装备伪影

    B

    SE序列T2加权或质子密度加权像易出现

    C

    B0不均匀

    D

    T2对B0不均匀敏感

    E

    受RF频率影响


    正确答案： B
    解析： 交叉对称信号伪影是磁场不均匀性使图像出现的异常信号，其属于装备伪影。常出现于自旋回波脉冲序列T2加权像或质子密度加权像，T2对B0不均匀敏感。主要因磁场的不均匀性引起，低场强的设备比高场强的设备更易出现。主要表现为图像在对角线方向呈对称型低信号。在刚开机时易发生伪影，随着开机时间的延长，磁体内匀场线圈逐渐恢复工作，随着磁体均匀度的提高此类伪影即可消除。

  • 第14题：

    单选题
    与交叉对称信号伪影无关的因素为（）
    A

    属装备伪影

    B

    SE序列T2加权或质子密度加权像易出现

    C

    Bo不均匀

    D

    T2对Bo不均匀敏感

    E

    受RF频率影响


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第15题：

    单选题
    上腹部横断面SE序列质子加权像，近中线位置有前后走向的一连串圆形高信号影重叠，最可能为（）
    A

    呼吸运动伪影。 

    B

    血管搏动伪影。 

    C

    化学位移伪影。 

    D

    卷褶伪影。 

    E

    金属异物伪影。 


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

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