简述X线头影测量在口腔正畸学中的意义。
题目
简述X线头影测量在口腔正畸学中的意义。
相似考题
参考答案和解析
正确答案:X线头影测量是测量Ｘ线头颅定位照相所得的影像，根据一定解剖标志点用描图纸从X线片上描下头影图迹，描绘出一定的线、角进行手工测量或通过电子计算机进行测量，了解牙、牙合、颌、面硬软组织的结构及其相互关系，从而进一步了解牙颌畸形的深部机制。是口腔正畸、正颌外科及口腔修复等专刊的临床诊断、治疗设计及研究工作的一个重要手段。
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第1题：
牙列拥挤诊断，除了（）
- A、模型分析
- B、拥挤度分析
- C、后段牙弓拥挤测量
- D、肌电图
- E、X线头影测量
正确答案:D -
第2题：
问答题简述X线头影测量的主要应用？正确答案： （1） 研究颅面生长发育。
（2） 牙颌、颅面畸形的诊断分析。
（3）确定错和畸形的矫治设计。
（4） 研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化。
（5） 外科正畸的诊断和矫治设计。
（6） 下颌功能分析。解析： 暂无解析 -
第3题：
问答题X线头影测量的主要应用有哪些？正确答案： （1）.研究颅面生长发育。
（2）.牙颌、颅面畸形的诊断分析。
（3）.确定错合畸形的矫治设计。
（4）.研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化。
（5）.外科正畸的诊断和矫治设计。
（6）.下颌功能分析。解析： 暂无解析 -
第4题：
填空题X线头影测量基准平面有（）、（）、（）。正确答案： 前颅底平面‖眼耳平面‖Bolton平面解析： 暂无解析