0.1r
0.3r
0.5r
0.75r
几何中心
第1题:
如以r表示电离室的半径,则高能X射线的有效测量点位于()
第2题:
如以r表示电离室的半径,则高能电子束的有效测量点位于()
第3题:
在用电离室测量高能电子束时,有效测量点应位于电离室中心前方的()
第4题:
对小光子线射野的PDD测量,错误的是()
第5题:
农机事故现场测量的尺寸数字可以用阿拉伯数字,半径用R表示。
第6题:
电离室定义有效测量点的目的是()
第7题:
按照IAEA测量规程1997年修订版的建议,关于用电离室在水模体中测量加速器8MVX射线吸收剂量时的参考条件,不正确的是()
第8题:
如果测得某能量的高能电子束PDD曲线,则电子束的模体表面平均能量是()
第9题:
从一个质量均匀分布的半径为R的圆盘中挖出一个半径为R/2的小圆盘,两圆盘中心的距离恰好也为R/2。如以两圆盘中心的连线为x轴,以大圆盘中心为坐标原点,则该圆盘质心位置的x坐标应为()
第10题:
0.5r
0.55r
0.6r
0.7r
0.75r
第11题:
腔内散射扰动效应小
有效测量点易于确定
对电子束吸收剂量的校准精度高
对沿线束入射方向剂量梯度变化较大的区域有较高的测量精度
以上各项
第12题:
2.33Rs
2.33R50MeV
2.33R80MeV
2.059RsMeV
2.059R50MeV
第13题:
硅晶体半导体探测器主要用于测量()的相对剂量。
第14题:
按照IAEA测量规程1997年修订版的建议,对高能电子线,有效测量点应位于电离室中心前方()
第15题:
如以r表示电离室的半径,则钴-60γ射线的有效测量点位于()
第16题:
如以r表示电离室的半径,则中能X射线的有效测量点位于()
第17题:
平行板电离室的优点是()
第18题:
不能用于测量电子束中心轴PDD的是()
第19题:
用R表示曲线半径,则曲线外侧加宽值W内=()。
第20题:
以球面顶点O为原点,球心C在O点右侧,则曲率半径r为正(正或负),球心C在O点左侧,则曲率半径r为()
第21题:
第22题:
盖格计数器
指形电离室
平行板电离室
半导体探头
胶片
第23题:
高能X(γ)射线与低能X射线
高能X(γ)射线与电子束
低能X射线与电子束
高能X射线
低能X射线
第24题:
电离室中心前方的0.5r处
电离室中心前方的0.55r处
电离室中心前方的0.6r处
电离室中心前方的0.65r处
电离室中心前方的0.7r处