单选题测量介质损耗 数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A 整体受潮B 整体劣化C 小体积试品的局部缺陷D 大体积试品的局部缺陷

题目
单选题
测量介质损耗 数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）
A

整体受潮

B

整体劣化

C

小体积试品的局部缺陷

D

大体积试品的局部缺陷

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1.介质损耗角正切法能适合发现哪些绝缘缺陷?

2.介质损耗测量能发现被试物所有绝缘缺陷。()

3.通过测量介质损耗角正切值可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。A对B错

4.下列缺陷中,介质损耗所不能反映的缺陷是()。A、绝缘受潮B、绝缘脏污C、绝缘部分击穿D、绝缘中存在气隙放电

参考答案和解析
正确答案： A
解析： 暂无解析
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  • 第1题：

    测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）

    • A、贯穿性缺陷
    • B、整体受潮
    • C、贯穿性受潮或脏污
    • D、局部缺陷

    正确答案:D

  • 第2题：

    测量介质损耗因数，通常不易发现（）。

    • A、整体受潮
    • B、绝缘油劣化
    • C、小体积试品的局部缺陷
    • D、大体积试品的局部缺陷

    正确答案:D

  • 第3题：

    测量介质损耗 数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）

    • A、整体受潮
    • B、整体劣化
    • C、小体积试品的局部缺陷
    • D、大体积试品的局部缺陷

    正确答案:D

  • 第4题：

    测介质损耗因数tgδ不能有效发现的绝缘缺陷是（）

    • A、穿透性导电通道
    • B、降绝缘内含气泡的电离
    • C、受热
    • D、绝缘油脏污、劣化

    正确答案:C

  • 第5题：

    通过测量介质损耗角正切值可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。


    正确答案:正确

  • 第6题：

    在一般情况下，介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。


    正确答案:正确

  • 第7题：

    测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）

    • A、贯穿性缺陷
    • B、整体受潮
    • C、贯穿性受潮或脏污
    • D、整体老化及局部缺陷

    正确答案:D

  • 第8题：

    测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。

    • A、贯穿性缺陷
    • B、整体受潮
    • C、小体积试品的局部缺陷
    • D、大体积试品的局部缺陷

    正确答案:A,B,C

  • 第9题：

    测量介质损耗因数，对发现以下哪些缺陷较为有效？（）

    • A、整体受潮
    • B、绝缘油劣化
    • C、小体积试品的局部缺陷
    • D、大体积试品的局部缺陷

    正确答案:A,B,C

  • 第10题：

    单选题
    下列缺陷不能由测量介质损耗角正切发现的是（）。
    A

    整体受潮

    B

    全面老化

    C

    绝缘油脏污劣化

    D

    大容量设备的局部缺陷


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    判断题
    介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    测量介质损耗 数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）
    A

    整体受潮

    B

    整体劣化

    C

    小体积试品的局部缺陷

    D

    大体积试品的局部缺陷


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    在高于起始放电电压时，绝缘介质的损耗会随电压的增加而（），因此用测量介质损耗的方法，可以探测设备的局部放电，即所谓测量绝缘的（），但这种方法的灵敏度较低。


    正确答案:增加；游离曲线

  • 第14题：

    介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。


    正确答案:错误

  • 第15题：

    测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常（）发现的设备绝缘缺陷是整体老化及局部缺陷。


    正确答案:不能

  • 第16题：

    可以用介质损耗正切值来表示介质损耗的大小，通过测量介质损耗正切值，可以发现（）等绝缘缺陷，是判定绝缘好坏的一项重要数据.

    • A、绝缘受潮缺陷
    • B、贯通性绝缘缺陷
    • C、绝缘老化缺陷
    • D、绝缘气隙放电缺陷

    正确答案:A,C,D

  • 第17题：

    测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）

    • A、整体受潮
    • B、整体劣化
    • C、小体积试品的局部缺陷
    • D、大体积试品的局部缺陷

    正确答案:D

  • 第18题：

    介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。


    正确答案:正确

  • 第19题：

    测量介质损耗因数，通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。

    • A、整体受潮
    • B、整体劣化
    • C、小体积试品的局部缺陷
    • D、大体积试品的局部缺陷

    正确答案:A,B,C

  • 第20题：

    为什么说测量电气设备的介质损耗因数tgδ，对判断设备绝缘的优劣状况具有重要意义？


    正确答案: 在绝缘受潮和有缺陷时，泄漏电流要增加，在绝缘中有大量气泡、杂质和受潮的情况，将使夹层极化加剧，极化损耗要增加。这样，介质损耗角正切tgδ的大小就直接与绝缘的好坏状况有关。同时，介质损耗引起绝缘内部发热，温度升高，这促使泄漏电流增大，有损极化加剧，介质损耗增大使绝缘内部更热，如此循环，可能在绝缘弱的地方引起击穿，故介质损耗值既反映了绝缘本身的状态，又可反映绝缘由良好状况向劣化状况转化的过程。同时介质损耗本身就是导致绝缘老化和损坏的一个因素。

  • 第21题：

    单选题
    测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）
    A

    整体受潮

    B

    整体劣化

    C

    小体积试品的局部缺陷

    D

    大体积试品的局部缺陷


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    填空题
    在高于起始放电电压时，绝缘介质的损耗会随电压的增加而（），因此用测量介质损耗的方法，可以探测设备的局部放电，即所谓测量绝缘的（），但这种方法的灵敏度较低。

    正确答案： 增加,游离曲线
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）
    A

    贯穿性缺陷

    B

    整体受潮

    C

    贯穿性受潮或脏污

    D

    整体老化及局部缺陷


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第24题：

    填空题
    测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常（）发现的设备绝缘缺陷是整体老化及局部缺陷。

    正确答案： 不能
    解析： 暂无解析

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