大
小
相同
以上都可以
第1题:
在筒身内壁作曲面周向探伤时,所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数()
第2题:
表面波探伤时,仪器荧光屏屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表()
第3题:
筒身外壁作曲面周向探伤时,缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数()
第4题:
表面波探伤时,仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表()。
第5题:
在筒身内壁作曲面周向探伤时,实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数()
第6题:
曲面工件探伤时,探伤面曲率半径越大,耦合效果越好。
第7题:
第8题:
大
小
相同
以上都可以
第9题:
大
小
相同
以上都可以
第10题:
大
小
相同
以上都可以
第11题:
第12题:
缺陷深度
缺陷至探头前沿距离
缺陷声程
以上都可以
第13题:
在筒身外壁作曲面周向探伤时,缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数:()
第14题:
一般探伤时不使用深度补偿是因为它会:()
第15题:
簿的试件或近距离缺陷探伤时,宜采用()探头.
第16题:
在毛面或曲面工件上作直探头探伤时,应用()直探头。
第17题:
大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时,如无缺陷,则探伤图形中只有发射脉冲和底波,如发现缺陷,则在底波之前显示()
第18题:
缺陷实际径向深度总是小于显示值
显示的水平距离总是大于实际弧长
显示值与实际值之差,随显示值的增加而减小
以上都正确
第19题:
第20题:
大
小
相同
以上都可能
第21题:
小K值探头
大K值探头
软保护膜探头
高频探头
第22题:
影响缺陷的精确定位
影响AVG曲线或当量定量法的使用
导致小缺陷漏检
以上都不对
第23题:
大
小
相同
以上都可以