反映SPECT断层成像的计数效率
对均匀体源成像,系统容积灵敏度为总体积内所有断层计数之和与源的放射性浓度之比
与源模型的大小形状无关
核素的能量、衰减、散射会影响灵敏度
晶体厚度、准直器的类型会影响灵敏度
第1题:
下列有关断层空间分辨率的描述,错误的是
A、包含3个方向的分辨率:x方向、y方向、z方向
B、用点源或线源的扩展函数在不同断层中的半高宽( FWHM)来表示
C、分有散射和无散射两种情况
D、FWHM越大,分辨率越高
E、准直器的类型、衰减校正、散射、晶体厚度、重建算法等都会影响空间分辨率
第2题:
关于SPECT的均匀性校正,正确的说法有()
第3题:
下列有关超声仪灵敏度的描述,错误的是()
第4题:
下列关于散射分数的描述,错误的一项是()。
第5题:
采用薄膜电容器作为检测器的线外线气体分析器,其光学系统的灵敏度与切光片的调制频率之间的关系是()
第6题:
下列有关PET探测器的描述正确的是()
第7题:
均匀性校正可改善断层图像的线性
如校正不当,断层图像上会产生同心圆状的伪影
采集校正泛源图像的计数必须使象素计数的统计涨落小于1%
均匀性校正可提高SPECT的灵敏度
均匀性校正可改善SPECT的计数率特性
第8题:
反映系统对小病灶的探测能力
断层对比度与病灶的大小有关
空间分辨率影响对比度的大小
不同的重建算法、选用不同的滤波函数及截止频率对对比度也有影响
对比度=断层图像内病灶平均计数/断层图像内本底平均计数
第9题:
描述探头对源的响应能力
指某一探头对特定点源的灵敏度
用单位活度在单位时间内的计数表示
系统平面灵敏度也称灵敏度
与准直器的类型、窗宽、源的种类及形状有关
第10题:
探测器模块中各晶体单元的切割均匀一致
晶体厚,则能量分辨率提高,灵敏度下降
晶体单元的表面面积小,则灵敏度提高,空间分辨率下降
探测器环的直径决定了系统的轴向视野的大小
同一环中探测器模块数量越多,系统的断层分辨率越高
第11题:
孔形状
孔径、有效孔深
孔间壁厚度
针孔的大小
放射源与准直器距离
第12题:
低能高分辨准直器
低能高灵敏度准直器
高能高灵敏度准直器
中能高灵敏度准直器
中能高分辨准直器
第13题:
下列有关断层对比度的描述,错误的是()。
第14题:
有关半导体探测器灵敏度的描述,不正确的是()
第15题:
准直器的灵敏度是准直器能够探测到放射性物质的能力准直器孔径越大,灵敏度越(),准直器越厚、孔的间壁越厚,灵敏度越。
第16题:
SPECT的主要优点是:()
第17题:
对采用薄膜电容器作为检测器的红外线分析器,其光学系统的灵敏度与切光片的调制频率之间的关系是:()
第18题:
乳腺99mTc-MIBI亲肿瘤显像时,常规选用的准直器类型是()
第19题:
指对均匀体源所成的断层图像中放射性分布的均匀性
断层图像的均匀性比γ相机平面图像的均匀性好
重建过程对非均匀性有放大作用
实际上是SPECT对核素在体内三维分布能否真实再现的指标
断层均匀性与重建算法及总计数有关
第20题:
PET系统对散射计数的敏感程度,散射分数越小,系统剔出散射符合的能力越强
散射分数有断层散射分数和系统散射分数
某一断层面i的散射分数SFi等于该断层中散射计数与总计数之比
散射分数计算时总计数为真符合、散射符合计数、随机符合计数之和
系统的散射分数SF等于所有断层面的散射分数SFi的平均
第21题:
用硅晶体制成的半导体探测器比相同体积的空气电离室的灵敏度高
在钻-60伽玛辐射场中,N型半导体探测器的灵敏度比P型半导体探测器的灵敏度受累积剂量的影响要小
照射野的大小会影响半导体探测器的灵敏度
环境温度会影响半导体探测器的灵敏度
剂量率会影响半导体探测器的灵敏度
第22题:
第23题:
包含3个方向的分辨率:x方向、y方向、z方向
用点源或线源的扩展函数在不同断层中的半高宽(FWHM)来表示
分有散射和无散射两种情况
FWHM越大,分辨率越高
准直器的类型、衰减校正、散射、晶体厚度、重建算法等都会影响空间分辨率