判断题当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。A 对B 错

第1题：

当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

A对

B错

第2题：

当电容器的容量和其两端的电压值一定时，若电源的频率越高则电路的无功功率越小。

第3题：

当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

第4题：

当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。

第5题：

当电容器的电容值一定时，加在电容器两端的电压频率越大，容抗越小

第6题：

使用QS1型交流电桥测量tanØ时，试验电源频率对测量值有一定影响。在一频率范围内，随频率的增加，tanØ值增加。当超过某一频率f0时，tanØ值随频率的增加而下降。这是由介质内极化分子“转向”能否跟上频率变化所决定的。

第7题：

当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成（）。

• A、反比
• B、正比
• C、U形曲线比例关系

第8题：

当绝缘介质一定，外加电压一定时，介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成（）。

• A、反比
• B、正比
• C、U形曲线比例关系

第9题：

当电介质一定，外加电压及频率一定时，介质损耗P与tgδ（）

• A、成正比
• B、成反比
• C、成正弦关系
• D、成余弦关系

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。

第14题：

当绝缘介质一定，外加电压一定时，介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成正比。

第15题：

M型介质试验器测量出被试品支路的视在功率S和有功损耗功率P，则其介质损耗角正切值tanδ=P/S。

第16题：

tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）。

• A、良好绝缘
• B、绝缘中存在气隙
• C、绝缘受潮

第17题：

测量20kV及以上非纯瓷套管的主绝缘介质损耗角正切值tanδ和电容值，电容型套管的实测电容量值与产品铭牌数值或出厂试验值相比，其差值应在（）范围内。

第18题：

介质损耗测试主要试验步骤有（）。

• A、将被试品断电，先充分放电后有效接地
• B、检查电容量及介质损耗测试仪是否正常
• C、根据被试品类型及内部结构选择相应的接线方式，被试品试验接线并检查确认接线正确
• D、设置试验仪器参数（试验电压值、接线方式），升压至试验电压后读取电容值和介损值
• E、降压至零，然后断开电源，充分放电后拆除接线，恢复被试设备试验前接线状态，结束试验

第19题：

某试验站采用西林电桥测量绝缘套管的介质损耗正切值tanδ，采用的电压频率f=50Hz，电桥内的电阻R4取3184Ω，调节电阻R3及电容C4使检流计指零，此时电容C4的电容量为0.08μF，则介质损耗正切值tanδ为（）。

• A、0.02
• B、0.08
• C、0.3184
• D、1

第20题：

有n个试品的介质损耗因数分别为tanδl、tanδ2、tanδ3、…、tanδn，若将它们并联在一起测得的总tanδ值必为tanδl、…、tanδn中的（）。

• A、最大值
• B、最小值
• C、平均值
• D、某介于最大值与最小值之间的值

第21题：

第22题：

第23题：

第24题：