单选题用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好A 平面度B 平行度C 光洁度D 准确度

题目
单选题
用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好
A

平面度

B

平行度

C

光洁度

D

准确度

相似考题

1.用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。A、0.9μmB、0C、1.8μm

2.用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

3.测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。

4.用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A、0.9μmB、0C、1.8μm

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  • 第1题：

    外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定

    • A、光波法
    • B、光干涉法
    • C、光条纹法
    • D、干涉条纹法

    正确答案:B

  • 第2题：

    用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好

    • A、平面度
    • B、平行度
    • C、光洁度
    • D、准确度

    正确答案:A

  • 第3题：

    用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整

    • A、直线形
    • B、圆形
    • C、平行的弧线
    • D、直线形、圆形和平行的弧线

    正确答案:A

  • 第4题：

    用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。

    • A、球面干涉
    • B、等倾干涉
    • C、等厚干涉

    正确答案:C

  • 第5题：

    测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？


    正确答案: 用平行平晶检定千分尺两工作面的平行度，是在白光下以技术光波干涉法进行的。由于在白光下呈现的彩色干涉条纹约为7条，即2μｍ，因此平行平晶与千分尺的工作面楔形量不大于2μｍ，检定时，平行平晶与千分尺两工作面的楔形量不一定是对称分布的，而对于测量上限大于100mm的千分尺，其工作面的平行度在4μｍ以上，所以不能用于平行平晶来检定。

  • 第6题：

    检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？


    正确答案:主要原因是平晶与测量面之间夹角太大，或操作时不注意使测量面上带有脏物所致。

  • 第7题：

    单选题
    用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面
    A

    平

    B

    球

    C

    波形

    D

    倾斜


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第8题：

    单选题
    千分尺的两工作面，如果其中一个工作面与测量轴线垂直，那么两工作面的平行度用平行平晶检定时，所需平行平晶的块数为（）。
    A

    四块

    B

    一块

    C

    二块


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    问答题
    如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？

    正确答案： 检定平面度时，使用平面平晶接触测量面后，调出干涉带，按干涉带的形状计算其平面度。
    检定平行度时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，使两测量面与平晶接触，并调整平晶使其接触点在同一侧，干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）
    A

    中凹

    B

    中凸

    C

    平面

    D

    波形


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    问答题
    用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？

    正确答案： 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度是根据平行平晶与两测量面的接触点在同一侧时，所产生的干涉条纹数确定。千分尺两测量面的平行度，是以其中一块平行平晶检定时产生干涉条纹数最多的确定。
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。
    A

    0.9μm

    B

    0

    C

    1.8μm


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）

    • A、中凹
    • B、中凸
    • C、平面
    • D、波形

    正确答案:A

  • 第14题：

    用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面

    • A、平
    • B、球
    • C、波形
    • D、倾斜

    正确答案:B

  • 第15题：

    如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？


    正确答案: 检定平面度时，使用平面平晶接触测量面后，调出干涉带，按干涉带的形状计算其平面度。
    检定平行度时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，使两测量面与平晶接触，并调整平晶使其接触点在同一侧，干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。

  • 第16题：

    对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。


    正确答案:错误

  • 第17题：

    用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？


    正确答案:用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度是根据平行平晶与两测量面的接触点在同一侧时，所产生的干涉条纹数确定。千分尺两测量面的平行度，是以其中一块平行平晶检定时产生干涉条纹数最多的确定。

  • 第18题：

    单选题
    用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
    A

    球面干涉

    B

    等倾干涉

    C

    等厚干涉


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第19题：

    单选题
    用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整
    A

    直线形

    B

    圆形

    C

    平行的弧线

    D

    直线形、圆形和平行的弧线


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    问答题
    检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？

    正确答案： 主要原因是平晶与测量面之间夹角太大，或操作时不注意使测量面上带有脏物所致。
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
    A

    球面干涉

    B

    等倾干涉

    C

    等厚干涉


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定
    A

    光波法

    B

    光干涉法

    C

    光条纹法

    D

    干涉条纹法


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔的干涉条纹，则其平面度为（）。
    A

    0.9μm

    B

    0

    C

    1.8μm


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

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