第1题:
金属塑性一般受金属晶粒影响,晶粒大,塑性差,晶粒小,塑性好。()
第2题:
X射线在大晶粒材料中衍射而引起的一种特殊形式的散射线会使底片上出现()状影像。
第3题:
晶粒较粗大的材料,在一定的射线透照条件下,射线底片上可能产生衍射斑纹。
第4题:
对大晶粒金属零件进行射线照相时,为了减轻衍射斑点的影响,可以降低管电压并使用铅箔增感屏。
第5题:
着色探伤和磁粉探伤主要检查金属()缺陷,射线探伤和超声波探伤检查金属()缺陷。
第6题:
大晶粒金属零件进行射线照相时,利用提高管电压和使用铅增感屏可以()。
第7题:
探伤不锈钢零件表面缺陷最好采用()探伤法。
第8题:
在射线探伤中,影响缺陷检测的因素很多,除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、()、射线的入射方向及透照厚度差等。
第9题:
提高管电压并使用荧光增感屏
降低管电压并使用铅箔增感屏
提高管电压并使用铅箔增感屏
降低管电压并使用荧光增感屏
第10题:
第11题:
晶粒大小对衍射强度的影响
参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响
衍射线位置对衍射强度的影响
试样形状对衍射强度的影响
第12题:
大多数锻件厚度较大,射线难以穿透
锻件中大多数缺陷的方向不利于射线照相法检出
大多数锻件晶粒粗大影响射线照相灵敏度
以上A和B
第13题:
对大晶粒金属零件进行射线照相时,为了减轻衍射斑点的影响,可以提高管电压并使用荧光增感屏。
第14题:
大晶粒金属零件进行射线照相时,利用()可以减少或消除衍射斑的影响。
第15题:
对大晶粒金属零件进行射线照相时,为了减轻衍射斑点的影响,可以提高管电压并使用铅箔增感屏。
第16题:
检验金属材料零件表面上的缺陷(如裂纹)通常采用()。
第17题:
大晶粒金属零件射线照相时,用什么方法可以减轻衍射斑点的影响?()
第18题:
大晶粒金属零件射线照相探伤,采用()和()可减少衍射的影响。
第19题:
荧光探伤的方法可适用于任何金属和非金属零件。
第20题:
X射线在大晶粒材料中会发生衍射现象引起(),使射线照片出现()。
第21题:
衍射峰变强
衍射峰变弱
衍射峰变宽
衍射峰变窄
第22题:
第23题:
射线照相
磁粉探伤法
超声波直探头
渗透探伤法
涡流探伤法