判断题涡流检测是根据检测线圈的阻抗变化来检测试件的材质变化。A 对B 错

题目
判断题
涡流检测是根据检测线圈的阻抗变化来检测试件的材质变化。
A

对

B

错

相似考题

1.涡流检测中,缺陷是通过改变涡流的分布及流动状态来影响检测线圈电参数的。()此题为判断题(对，错)。

2.涡流检测线圈中次级绕组的主要作用是（）。A、在试样中感应出涡流B、检出涡流的变化C、在试样中感应出涡流和检出涡流的变化D、提供直流磁饱和

3.涡流试验时，被检材料的变量可以作为哪一种变化量来检测？（）A、试验速度；B、传感线圈的阻抗；C、以上都不是；D、以上都是.

4.电涡流式传感器利用涡流效应将检测量的变化转换成线圈的()A、电阻变化B、电容变化C、涡流变化D、电感变化

更多“涡流检测是根据检测线圈的阻抗变化来检测试件的材质变化。”相关问题

  • 第1题：

    涡流检测线圈必须具备的功能是（）。

    • A、激励涡流和放大信号
    • B、检测并放大信号
    • C、激励涡流和检测信号
    • D、检测并处理信号

    正确答案:C

  • 第2题：

    下列哪一种情况下，涡流检测线圈的阻抗会增加？（）

    • A、检测频率增加
    • B、线圈感抗减少
    • C、线圈电感减少
    • D、线圈电阻减少

    正确答案:A

  • 第3题：

    涡流探伤时，是根据检测线圈（）参数的变化来检出工件材质变化的，棒、管和线材通常可用（）式线圈检验。


    正确答案:阻抗；通过

  • 第4题：

    涡流检测是根据检测线圈的阻抗变化来检测试件的材质变化。


    正确答案:正确

  • 第5题：

    涡流探伤中，试件和检测线圈不同心，造成距线圈较远的缺陷（）


    正确答案:漏检

  • 第6题：

    涡流检测中，缺陷是通过改变涡流的分布及流动状态来影响检测线圈电参数的。


    正确答案:正确

  • 第7题：

    DDZ-Ⅱ型差压变送器的检测铝片接近平面检测线圈时，检测线圈的电感量（）。

    • A、没什么变化，但在铝片中产生的涡流使高频振荡器的频率增加
    • B、没什么变化，但在铝片中产生的涡流使高频振荡器的频率降低
    • C、减小
    • D、增大

    正确答案:C

  • 第8题：

    判断题
    涡流检测中，缺陷是通过改变涡流的分布及流动状态来影响检测线圈电参数的。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    下列哪一种情况下，涡流检测线圈的阻抗会增加？（）
    A

    检测频率增加

    B

    线圈感抗减少

    C

    线圈电感减少

    D

    线圈电阻减少


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    填空题
    填充系数减少时，一定的电导率变化所引起的检测线圈的阻抗变化将（）.

    正确答案： 减少
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    填空题
    涡流探伤中，试件和检测线圈不同心，造成距线圈较远的缺陷（）

    正确答案： 漏检
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    填空题
    涡流检测选择频率时，应使检测因素和干扰因素两者阻抗变化之间的相位差（）.

    正确答案： 较大
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    简述涡流检测时，有哪些主要因素会影响线圈阻抗？


    正确答案:涡流检测时，影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来：1－η＋μrμ
    相对磁导率；μeffeff式中：η--填充系数；μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/（2πμσα），α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径（或半径）描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率（分析参见电导率分析），而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。

  • 第14题：

    填充系数减少时，一定的电导率变化所引起的检测线圈的阻抗变化将（）.


    正确答案:减少

  • 第15题：

    涡流检测选择频率时，应使检测因素和干扰因素两者阻抗变化之间的相位差（）.


    正确答案:较大

  • 第16题：

    涡流检测中，检测线圈的平均直径是指检测线圈（）之和的一半。


    正确答案:内径和外径

  • 第17题：

    进行涡流检测时，根据下列（）种参数的变化可检出试件表面缺陷？

    • A、检测线圈的阻抗
    • B、激励信号的频率
    • C、检测线圈的电压
    • D、A或C

    正确答案:D

  • 第18题：

    用涡流检测法检测一个结构件时，如何知道被检构件中是否有缺陷？（）

    • A、通过测量检测线圈中的电流变化量
    • B、通过测量被检测构件中交变磁场强弱
    • C、通过测量被检测构件中涡流强弱
    • D、通过测量检测线圈周围磁场的变化

    正确答案:A

  • 第19题：

    判断题
    涡流检测是根据检测线圈的阻抗变化来检测试件的材质变化。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    单选题
    涡流试验时，被检材料的变量可以作为哪一种变化量来检测？（）
    A

    试验速度；

    B

    传感线圈的阻抗；

    C

    以上都不是；

    D

    以上都是.


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    填空题
    涡流探伤时，是根据检测线圈（）参数的变化来检出工件材质变化的，棒、管和线材通常可用（）式线圈检验。

    正确答案： 阻抗,通过
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    进行涡流检测时，根据下列（）种参数的变化可检出试件表面缺陷？
    A

    检测线圈的阻抗

    B

    激励信号的频率

    C

    检测线圈的电压

    D

    A或C


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    问答题
    简述涡流检测时，有哪些主要因素会影响线圈阻抗？

    正确答案： 涡流检测时，影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来：1－η＋μrμ
    相对磁导率；μeffeff式中：η--填充系数；μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/（2πμσα），α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径（或半径）描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率（分析参见电导率分析），而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。
    解析： 暂无解析

  • 第24题：

    单选题
    涡流检测线圈中次级绕组的主要作用是（）。
    A

    在试样中感应出涡流

    B

    检出涡流的变化

    C

    在试样中感应出涡流和检出涡流的变化

    D

    提供直流磁饱和


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

相关内容