判断题利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。A 对B 错

题目
判断题
利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。
A

对

B

错

相似考题

1.利用WGT-3试块上∮3×80横通孔可测定0°探头( )。A、分辨力B、穿透力C、声轴偏斜角D、盲区

2.H-1型半圆试块（）。A、可调整探测范围B、可测定直探头距离幅度特性C、可测定斜探头的入射角和折射角D、A与C都对

3.阶梯试块主要用于测定0°探头（即直探头）的距离幅度特性和（）特性。

4.IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。（）此题为判断题(对，错)。

参考答案和解析
正确答案： 对
解析： 暂无解析
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  • 第1题：

    与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。


    正确答案:正确

  • 第2题：

    探头盲区范围可在专用试块上进行测量。


    正确答案:正确

  • 第3题：

    如何在IIW试块上测试探头性能的“双峰”？


    正确答案: 将探头对准IIW试块上的棱边，前后移动，在找出最大反射波再前后移动探头并观察荧光屏，如再移动探头时反射波的幅度下降而不上升，说明无双峰，反之则有“双峰”。

  • 第4题：

    国际焊接学会的IIW试块主要用来测定仪器探头的那些性能？


    正确答案:可测定：水平线性、垂直线性、盲区、分辨力、波束轴线偏斜角、入射角、折射角、波束指向角、探头前沿长度。

  • 第5题：

    阶梯试块主要用于测定（）的距离幅度特性和阻塞范围。

    • A、斜探头
    • B、直探头
    • C、聚焦探头
    • D、可变角探头

    正确答案:B

  • 第6题：

    问答题
    如何在IIW试块上测试探头性能的“双峰”？

    正确答案： 将探头对准IIW试块上的棱边，前后移动，在找出最大反射波再前后移动探头并观察荧光屏，如再移动探头时反射波的幅度下降而不上升，说明无双峰，反之则有“双峰”。
    解析： 暂无解析

  • 第7题：

    判断题
    当斜探头对准IIW2试块上R50曲面时，荧光屏上的多次反射回波是等距离的。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第8题：

    判断题
    利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    判断题
    CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    判断题
    IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    H-1型半圆试块（）。
    A

    可调整探测范围

    B

    可测定直探头距离幅度特性

    C

    可测定斜探头的入射角和折射角

    D

    A与C都对


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    阶梯试块主要用于测定（）的距离幅度特性和阻塞范围。
    A

    斜探头

    B

    直探头

    C

    聚焦探头

    D

    可变角探头


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。


    正确答案:正确

  • 第14题：

    CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）

    • A、测定斜探头K值
    • B、测定直探头盲区范围
    • C、测定斜探头分辨率
    • D、以上全部

    正确答案:A

  • 第15题：

    CSK-1A试块有机玻璃可测定（）。

    • A、直探头盲区
    • B、直探头穿透能力
    • C、直探头盲区和穿透能力
    • D、上述都不能测

    正确答案:C

  • 第16题：

    IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。


    正确答案:正确

  • 第17题：

    阶梯试块主要用于测定直探头的距离幅度特性和阻塞范围。


    正确答案:正确

  • 第18题：

    判断题
    与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第19题：

    判断题
    利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    判断题
    斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    CSK-1A试块有机玻璃可测定（）。
    A

    直探头盲区

    B

    直探头穿透能力

    C

    直探头盲区和穿透能力

    D

    上述都不能测


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）
    A

    测定斜探头K值

    B

    测定直探头盲区范围

    C

    测定斜探头分辨力

    D

    以上全是


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    判断题
    阶梯试块主要用于测定直探头的距离幅度特性和阻塞范围。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第24题：

    判断题
    与IIW试块相比CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

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