问答题电子探针与扫描电镜有何异同？电子探针如何与扫描电镜和透射电镜配合进行显微结构与微区化学成分的同位分析？
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问答题
电子探针与扫描电镜有何异同？电子探针如何与扫描电镜和透射电镜配合进行显微结构与微区化学成分的同位分析？
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第1题：
扫描电镜与透射电镜相比有哪些特点？
正确答案: ①能够与直接观察样品表面的结构，样品尺寸可大至120mm*80mm*50mm；
②样品制备过程简单，不用切成薄片；
③样品可以在样品室作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察；
④景深，图像富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大十几倍；
⑤图像的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射显微镜之间，可达3nm；
⑥电子束对样品的损伤与污染程度较小；
⑦在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作成分分析。 -
第2题：
电子探针与扫描电镜有何异同？电子探针如何与扫描电镜和透射电镜配合进行显微结构与微区化学成分的同位分析？
正确答案:电子探针用于成分分析、形貌观察，以成分分析为主；扫描电镜同样用于形貌观察、成分分析，但以形貌观察为主。 -
第3题：
为了区别天然与充胶处理翡翠，可采用宝石学测试方法有：（）
- A、电子探针
- B、X－荧光分析
- C、紫外荧光
- D、红外光谱
正确答案:C,D -
第4题：
问答题调幅分解与脱溶分解有何异同点？调幅分解所得到的显微结构与性能有何特点？正确答案： 调幅分解通过扩散偏聚由一种固溶体分解成与母相结构相同而成分不同的两种固溶体。 脱溶分解是从过饱和固溶体中析出第二相的过程。 它们的主要区别如下：
（1）调幅分解属于连续型相变。它是一种无热力学能垒、无形核的固态相变。脱溶分解是形核－长大型相变，有热力学能垒，有形核过程。
（2）调幅分解初期，母相内的成分起伏是逐步建立起来的，两相的成分随时间增加而连续变化并曾正弦波分布规律，最后达到平衡相成分。脱溶分解的晶核一旦在母相中形成，其成分就是平衡相的成分，以后变化不大。
（3）调幅分解在母相中均匀的发生；脱溶分解晶核一般在晶体缺陷处形成。
（4）调幅分解中的增幅过程是通过上坡扩散。沉淀相晶核的形成是通过下坡扩散。
（5）调幅分解中的两个偏聚区曾不明晰共格界面。沉淀相与母相曾明细界面。
（6）调幅分解组织结构规则，脱溶分解组织的均匀性较差。 相同点：都是通过溶质的扩散而进行。
调幅分解所得到的显微结构通常曾准周期性和互连性的成分调制结构或海绵状组织，组织均匀细密，只有在电镜下才能分辨。解析： 暂无解析 -
第5题：
问答题简述扫描电镜的结构和特点（与TEM进行对比）。正确答案： SEM主要由电子光学系统、扫描系统、信号收集系统、图像显示记录系统、真空系统和电源系统。
SEM的电子枪和聚光镜与透射式电子显微镜的大致相同，但是为了使电子束更细，在聚光镜下又增加了物镜和消像散器，在物镜内部还装有两组互相垂直的扫描线圈。物镜下面的样品室内装有可以移动、转动和倾斜的样品台。
TEM镜筒的顶部是电子枪，电子由钨丝热阴极发射出、通过第一，第二两个聚光镜使电子束聚焦。电子束通过样品后由物镜成像于中间镜上，再通过中间镜和投影镜逐级放大，成像于荧光屏或照相干版上；SEM的电子束不穿过样品，仅在样品表面扫描激发出二次电子、背散射电子成像。解析： 暂无解析 -
第6题：
问答题请简述透射电镜与扫描电镜进行形貌成像时的差别。正确答案： 透射电镜不仅能在物镜后焦平面上获得衍射花样，而且能在像平面上获得组织形貌像的方法。衍射像主要取决于入射电子束与样品内各晶面相对取向不同所导致的衍射强度差异。如果只让透射束通过物镜光阑成像，那么就会由于样品中各晶面或强衍射或弱衍射或不衍射，导致透射束相应强度的变化，从而在荧光屏上形成衬度。
扫描电镜的像衬度主要是利用样品表面微观特征的差异，在电子束作用下产生不同强度的物理信号，导致阴极射线管荧光屏上不同的区域不同的亮度差异，从而获得具有一定衬度的图像。解析： 暂无解析 -
第7题：
多选题在扫描电镜分析中（）A成分像能反映成分分布信息，形貌像和二次电子像反映形貌信息
B所有扫描电镜像，只能反映形貌信息
C形貌像中凸尖和台阶边缘处最亮，平坦和凹谷处最暗
D扫描电镜分辨率比透射电镜高
正确答案： C,D解析： 暂无解析 -
第8题：
填空题电子探针是一种（）分析和（）分析相结合的微区分析。正确答案： 显微,成分解析： 暂无解析 -
第9题：
问答题电子探针对材料的成分分析与EDXRF成分分析有何异同？正确答案： （1）异：EDXRF检测的是由X射线激发产生的荧光X射线，EPMA检测的是由电子束激发产生的特征X射线。
（2）同：检测激发的荧光X射线或特征X射线的强度和波长就可以定量分析成分和含量；同样用到了WDS和EDS进行分析。解析： 暂无解析 -
第10题：
问答题什么是电子探针显微分析？电子探针显微分析原理是什么？可对材料进行哪些分析测试？正确答案： （1）电子探针X射线显微分析是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析。
（2）用聚焦电子束（电子探测针）照射在试样表面待测的微小区域上，激发试样中诸元素的不同波长（或能量）的特征X射线。用X射线谱仪探测这些X射线，得到X射线谱。根据特征X射线的波谱（或能量）进行元素定性分析；根据特征X射线的强度进行元素的定量分析。
（3）电子探针可适用于分析试样中的微小区域的化学成分，是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有用的分析方法。解析： 暂无解析 -
第11题：
问答题扫描电镜与透射电镜相比有哪些特点？正确答案： ①能够与直接观察样品表面的结构，样品尺寸可大至120mm*80mm*50mm；
②样品制备过程简单，不用切成薄片；
③样品可以在样品室作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察；
④景深，图像富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大十几倍；
⑤图像的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射显微镜之间，可达3nm；
⑥电子束对样品的损伤与污染程度较小；
⑦在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作成分分析。解析： 暂无解析 -
第12题：
问答题试比较扫描电镜与透射电镜成像原理？为什么透射电镜的样品要求非常薄而扫描电镜没有此要求？正确答案： 扫描电镜的工作原理是用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，也就是说与样品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并在那里被闪烁器转变为光信号，再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度，显示出与电子束同步的扫描图像。图像为立体形象，反映了样品的表面结构。
透射电子显微镜是以电子束为照明源，通过电子流对样品的透射或反射及电磁透镜的多级放大后在荧光屏上成像的大型仪器。
二者区别：
1）透射式电子显微镜常用于观察那些用普通显微镜所不能分辨的细微物质结构；扫描电子显微镜主要用于观察固体表面的形貌。
2）透射式电子显微镜镜筒的顶部是电子枪，电子由钨丝热阴极发射出、通过第一，第二两个聚光镜使电子束聚焦。电子束通过样品后由物镜成像于中间镜上，再通过中间镜和投影镜逐级放大，成像于荧光屏或照相干版上，扫描电子显微镜的电子束不穿过样品，仅在样品表面扫描激发出二次电子。
3）样品较薄或密度较低的部分，电子束散射较少，这样就有较多的电子通过物镜光栏，参与成像，而扫描式电子显微镜不需要很薄的样品。解析： 暂无解析 -
第13题：
调幅分解与脱溶分解有何异同点？调幅分解所得到的显微结构与性能有何特点？
正确答案: 调幅分解通过扩散偏聚由一种固溶体分解成与母相结构相同而成分不同的两种固溶体。 脱溶分解是从过饱和固溶体中析出第二相的过程。 它们的主要区别如下：
（1）调幅分解属于连续型相变。它是一种无热力学能垒、无形核的固态相变。脱溶分解是形核－长大型相变，有热力学能垒，有形核过程。
（2）调幅分解初期，母相内的成分起伏是逐步建立起来的，两相的成分随时间增加而连续变化并曾正弦波分布规律，最后达到平衡相成分。脱溶分解的晶核一旦在母相中形成，其成分就是平衡相的成分，以后变化不大。
（3）调幅分解在母相中均匀的发生；脱溶分解晶核一般在晶体缺陷处形成。
（4）调幅分解中的增幅过程是通过上坡扩散。沉淀相晶核的形成是通过下坡扩散。
（5）调幅分解中的两个偏聚区曾不明晰共格界面。沉淀相与母相曾明细界面。
（6）调幅分解组织结构规则，脱溶分解组织的均匀性较差。 相同点：都是通过溶质的扩散而进行。
调幅分解所得到的显微结构通常曾准周期性和互连性的成分调制结构或海绵状组织，组织均匀细密，只有在电镜下才能分辨。 -
第14题：
电子散射少、对样品损伤小、可用于观察活细胞的电子显微镜是（）
- A、普通透射电镜
- B、普通扫描电镜
- C、超高压电镜
- D、扫描透射电镜
- E、分析扫描电镜
正确答案:C -
第15题：
问答题实验室有X射线衍射仪器，扫描电镜，电子探针、透射电镜、X射线光电子能谱仪和差示扫描量热仪等测试仪器，现对非晶块体材料AmBn进行分析： （a）AmBn热稳定性分析； （b）结构分析； （c）物相分析。 试确定实验方案，并指出分析目的。正确答案： A.差示扫描热议：定量测定多种热力学和动力学参数；
B.透射电镜：目的是对材料的晶体结构进行分析；
C.X射线衍射仪：目的是确定其晶体学参数。解析： 暂无解析 -
第16题：
问答题电子探针显微分析可对材料进行哪些分析测试？正确答案： 电子探针可适用于分析试样中的微小区域的化学成分，是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有用的分析方法。解析： 暂无解析 -
第17题：
问答题透射电镜与普通光学显微镜的成像原理有何异同？正确答案： 透射电镜与光学显微镜的成像原理基本一样，不同的是：
1）透射电镜用电子束作光源，用电磁场作透镜，
2）光学显微镜用可见光或紫外光作光源，以光学玻璃为透镜。解析： 暂无解析 -
第18题：
问答题扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同?正确答案： 扫描电子显微镜（Scanning electron microscope--SEM）是以类似电视摄影显像的方式，通过细聚焦电子束在样品表面扫描激发出的各种物理信号来调制成像的显微分析技术。SEM成像原理与TEM完全不同，不用电磁透镜放大成像解析： 暂无解析 -
第19题：
问答题电子探针仪与X射线谱仪从工作原理和应用上有哪些区别？正确答案： 电子探针仪的工作原理：
由莫赛莱定律λ=K/（Z-σ）2可知X射线特征谱线的波长和产生此射线的样品材料的原子序数有一确定的关系。只要测出特征X射线的波长，就可确定相应元素的原子序数。又因为某种元素的特征X射线强度与该元素在样品中的浓度成比例，所有只要测出这种特征X射线的强度，就可计算出该元素的相对含量。
X.射线衍射仪的工作原理：布拉格方程2dsinθ=λ
波谱仪利用某些晶体对X射线的衍射作用来达到使不同波长分散的目的。若有一束包括不同波长的X射线照射到一个晶体表面上，平行于该晶体表面的晶面的间距为d，入射X射线与该晶面的夹角为θ，则其中只有满足布拉格方程的那个波长的X射线发生衍射。若再与入射X射线方向成2θ的方向上设置X射线检测器，就可以检测到这个特定波长的X射线及其强度。解析： 暂无解析 -
第20题：
问答题电子探针对材料成分分析与EDXRF成分分析有何异同点？正确答案： EPMA和XRF都能够对材料进行元素分析，但是有所区别的是：EPMA分析微区表面的成分，可以检测样品的点、线、面的不均匀性。而XRF分析材料的成分，XRF分析的样品面积和深度要比EPMA大。解析： 暂无解析 -
第21题：
单选题电子散射少、对样品损伤小、可用于观察活细胞的电子显微镜是（）A普通透射电镜
B普通扫描电镜
C超高压电镜
D扫描透射电镜
E分析扫描电镜
正确答案： E解析： 暂无解析 -
第22题：
填空题电子探针包括（）和（）成分分析仪器。正确答案： 波谱仪,能谱仪解析： 暂无解析 -
第23题：
问答题简述电子探针的主要分析方法。正确答案： 可进行微区结构及成分分析。电子探针是最准确的微区定量分析手段，微区分析（几个立方μm范围）是它的一个重要特点之一，它能将微区化学成份与显微结构对应起来，是一种显微结构的分析。而一般化学分析、X荧光分析及光谱分析等，是分析试样较大范围内的平均化学组成，也无法与显微结构相对应，不能对材料显微结构与材料性能关系进行研究。解析： 暂无解析