问答题简述粉体颗粒的化学表征方法有哪些？

第1题：

第2题：

简述粉体流动性的影响因素及其改善方法。

正确答案:1.增加粒子的粒径、对于黏度性的粉末粒子进行造粒，以减少粒子间的接触点数，降低粒子间的附着力、凝聚力；
2.改善粒子形状及表面粗糙度、球形粒子的表面光滑，减少接触点数，减少摩擦力；
3.适当降低含湿量、由于吸湿作用，在粒子表面吸附的水分增加了粒子间黏着力，因此，适当干燥有利于减弱粒子间作用力；4.加入助流剂的影响、在粉体中加入1%~2%滑石粉、微粉硅胶等助流剂时可大大改善粉体的流动性，但过多的助流剂反而增加阻力。

第3题：

列举粉体的晶态表征方法。

正确答案: X射线衍射法，具体的X射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉末法、衍射仪法等，其中常用于陶瓷的方法为粉末法和衍射仪法，含量>5%
电子衍射法，电子衍射法包括以下几种：选区电子衍射、微束电于衍射、高分辨电子衍射、高分散性电子衍射、会聚束电子衍射等。

第4题：

简述粉体颗粒的化学表征方法有哪些？

正确答案: 粉体化学成分确定：
（1）分析化学方法；
（2）X射线荧光技术 （XRF）；
（3）质谱 （MS）；
（4）中子激活分析（neutron activation analysis）；
（5）电子微探针 （EPMA）；
（6）离子微探针 （IPMA）；探针技术在样品内的穿透深度大约是1m。
表面化学成分：（1）X射线质子发射谱 （XPS）或化学分析电子谱（ESCA）；
（2）俄歇电子谱 （AES）；
（3）二次离子质谱 （SIMS）；（4）扫描俄歇电子显微镜 （SAM）；表面分析要求电子束或离子束在样品内的传统深度小于200nm。
粉体颗粒晶态的表征：
（1）X射线衍射法（XRD）：基本原理是利用X射线在晶体中的衍射现象必须满足布拉格（Bragg）公式： nλ=2dsinθ
具体的X射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉末法、衍射仪法等，其中常用于纳米陶瓷的方法为粉末法和衍射仪法。
（2）电子衍射法（E1ectron Diffraction）
电子衍射法与X射线法原理相同，遵循劳厄方程或布拉格方程所规定的衍射条件和几何关系。电子衍射法包括以下几种：选区电子衍射、微束电于衍射、高分辨电子衍射、高分散性电子衍射、会聚束电子衍射等。

第5题：

列举5种粉体的化学成分分析方法

正确答案: 分析化学方法、X射线荧光技术、质谱、中子激活分析、电子微探针、离子微探针

第6题：

简述机械法制备粉体的设备有哪些，各有何特点。

正确答案: 1）颚式破碎机
A.粗碎设备，主要用于块状料的前级处理；
B.设备结构简单，操作方便，产量高；
C.颚式破碎机的粉碎比不大（约4），而进料块度又很大；
D.其出料粒度一般都较粗，而且细度的调节范围也不大。
2）轧辊破碎机
A.粉碎效率高，粉碎比大（＞60），粒度较细（通常可达到44微米）；
B.当细磨硬质原料时，使得粉料中混入较多的铁，影响原料纯度，要求后续去铁；
C.其粉料粒度分布比较窄，不宜用于处理有粒度分布要求的原料。
3）轮碾机
A.中碎设备，也可用于混合物料；
B.轮碾机的粉碎比大（约10）；
C.轮碾机通过碾、压、挤、搓等机械力学的功能，达到了机械力活化的效果，通过轮碾原混合材料的结构成为活性材料，从而提高制品的强度；
D.它适应混合各种干湿物料及胶状物如耐火泥、黏土、粉煤灰，尾矿渣、炉渣、型砂等，广泛地用于耐火材料，陶瓷，建材等行业；
E.效果好、生产效率高、节能效果显著、密封性好、无环境污染，适应性强等优点。

第7题：

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

允许用制备方法来表征化学产品权利要求的情况是：用制备方法之外的其他特征不能充分表征的化学产品，并且制备方法给予了该化学产品新的特性。

正确答案:错误

第14题：

粉体颗粒

正确答案:是指在物质结构不发生改变的前提下分散或细化而得到的固体基本颗粒。

第15题：

常用来表征粉体颗粒形态的形状因素有（）、伸长度n、表面积形状因数、体积形状因数和球形度。

正确答案:颗粒的扁平度m

第16题：

化学法合成粉体的主要方法有哪些？并说明原理。

正确答案:化学法合成粉体的主要方法：固相法（热分解反应法、化合反应法、氧化还原法）；液相法（沉淀法：直接沉淀法、均匀沉淀法、共沉淀法；醇盐水解法；溶胶－凝胶法；溶剂蒸发法：冰冻干燥法、喷雾干燥法、喷雾热解法）；气相法（蒸发-凝聚法、气相化学反应法）。

第17题：

粉体颗粒粒度测定分析的方法有哪些？并说明原理。

正确答案: （1） 筛分：按照开口直径逐渐降低的顺序将一系列筛网安装在一起，一次操作即可将不同粒度范围的颗粒及其所占的体积或重量百分比的测定完成。适合用于大于37 um的颗粒的表征和分级。
（2） 沉降法：沉降法测定颗粒尺寸是以Stoke’s方程为基础的。该方程表达了—球形颗粒在层流状态的流体中，自由下降速度与颗粒尺寸的关系。所测得的尺寸为等当stokeˊs直径。沉降法测定颗粒尺寸分布有增值法和累计法两种。依靠重力沉降的方法，一般只能测定＞100 nm的颗粒尺寸，因此在用沉降法测定纳米粉体的颗粒时，需借助于离心沉降法。
（3） 感应区法：感应区法分两种：电阻变化法和光学方法。电阻变化法用于快速测定电解质溶液里颗粒或液滴的粒
度，适合测定的颗粒直径范围是0.3到700 um；光学原理测量颗粒的粒度，可以测定的粉体颗粒直径范围是0.3到100 um。
（4） 吸附方法 ：可以采用低温气体吸附和溶液吸附方法进行粒度测定。它得到的是粉体的总的表面积，可以根据粉体的总表面积来计算平均颗粒尺寸（假定颗粒的形状和气孔数）。
（5） X射线小角度散射法：小角度X射线是指X射线衍射中倒易点阵原点附近的相干散射现象。散射角ε大约为十分之几度到几度的数量级。可测的颗粒尺寸为几纳米到几十纳米。
（6） X射线衍射线线宽法：X射线衍射线线宽法测定的是微细晶粒尺寸。同时，这种方法不仅可用于分散颗粒的测定，也可用于晶粒极细的纳米陶瓷的晶粒大小的测定。衍射线宽度与晶粒度的关系可由谢乐公式表示，谢乐公式的适用范围是微晶的尺寸在1－100nm之间。
（7） 光学显微镜法：可以将显微镜下的微区照片按一定比例放大来测量颗粒尺寸；也可以将图象传输到一个图象处理系统进行半自动或全自动统计计数。光学显微镜测定的颗粒尺寸范围一般大于0.25 um。
（8） 透射电子显微镜（TEM）：需做成薄片（500nm）或加工成100nm宽的条带，其分辨率大约为3nm。

第18题：

第19题：

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：