RMS和WS是描述成像系统的（）特征的物理量。

题目

RMS和WS是描述成像系统的（）特征的物理量。

相似考题

1.下列组合错误的是A、RMS--颗粒性B、DQE--噪声等价量子数C、MTF--分辨力D、WS--维纳频谱E、ROC--受试者操作特性曲线

2.描述X射线照片斑点特征的物理置是A.NEQ、DQEB.MTFC.RMS、WSD.ROCE.SNR描述成像系统分辨率特性的重要参量是A.NEQ、DQEB.MTFC.RMS、WSD.ROCE.SNR信噪比是A.NEQ、DQEB.MTFC.RMS、WSD.ROCE.SNR请帮忙给出每个问题的正确答案和分析，谢谢！

3.受试者操作特性曲线是A.NEQ.DQEB.MTFC.RMS.WSD.ROCE.SNR起初用于评价天体物理摄影系统成像质量的物理量的是A.NEQ.DQEB.MTFC.RMS.WSD.ROCE.SNR描述X线照片斑点特征的物理量是A.NEQ.DQEB.MTFC.RMS.WSD.ROCE.SNR描述成像系统分辨率特性的重要参量是A.NEQ.DQEB.MTFC.RMS.WSD.ROCE.SNR信噪比是A.NEQ.DQEB.MTFC.RMS.WSD.ROCE.SNR请帮忙给出每个问题的正确答案和分析，谢谢！

4.描述X线照片斑点特征的物理量是A、NEQ、DQEB、MTFC、RMS、WSD、ROCE、SNR

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  • 第1题：

    描述成像系统分辨率特性的重要参量是

    A、NEQ、DQE

    B、MTF

    C、RMS、WS

    D、ROC

    E、SNR


    参考答案：B

  • 第2题：

    下列描述哪项错误

    A．RMS曲线——照片斑点

    B．HD特性曲线——屏-片体系感度

    C．ROC曲线——影像感兴趣区

    D．MTF——影像清晰度

    E．WS曲线——影像颗粒度


    正确答案：C

  • 第3题：

    下列描述，错误的为

    A.RMS曲线--照片斑点
    B.HD特性曲线--屏一片体系感度
    C.ROC曲线--影像感兴趣区
    D.MTF-影像清晰度
    E.WS曲线--影像颗粒度

    答案：C
    解析：
    ROC曲线是观测者操作特性曲线。

  • 第4题：

    下列评价方法与评价对象的组合，错误的是（）。

    • A、H-D特性曲线—屏/片系统感度
    • B、ROC曲线—影像感兴趣区
    • C、MTF—影像清晰度
    • D、WS曲线—影像颗粒度
    • E、RMS—照片斑点

    正确答案:B

  • 第5题：

    下列组合错误的是哪个（）

    • A、RMS-颗粒性
    • B、DQE-噪声等价量子数
    • C、MTF-分辨力
    • D、ws-维纳频谱
    • E、ROC-受试者操作特性曲线

    正确答案:B

  • 第6题：

    关于RMS的说法正确的是（）。

    • A、描述噪声特性
    • B、测量RMS需要显微密度计
    • C、可以用于比较不同屏-片组合的噪声特性
    • D、RMS越大，系统噪声越大
    • E、以上都不对

    正确答案:A,B,C,D

  • 第7题：

    关于WS的说法正确的是（）

    • A、WS表示面积
    • B、WS描述分辨力特性
    • C、WS的单位是LP/mm
    • D、WS是系统自相关函数的傅立叶变换
    • E、以上都不对

    正确答案:D

  • 第8题：

    使用RMS系统的油站，在接到（）和（）后，油站经理应将油站的天书的内容更新，同时要确保RMS系统每天与公司总部系统交换数据。


    正确答案:新商品通告；天书

  • 第9题：

    单选题
    描述X射线照片斑点特征的物理量是
    A

    B

    C

    D

    E


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    问答题
    用哪些物理量可描述超声场的特征？

    正确答案： 描述超声场的特征值主要有声压、声强和声阻抗。
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    描述X射线照片斑点特征的物理量是（）
    A

    NEQ、DQE

    B

    MTF

    C

    RMS、WS

    D

    ROC

    E

    SNR


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    多选题
    关于RMS的说法正确的是（）。
    A

    描述噪声特性

    B

    测量RMS需要显微密度计

    C

    可以用于比较不同屏-片组合的噪声特性

    D

    RMS越大，系统噪声越大

    E

    以上都不对


    正确答案： A,D
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    描述X射线照片斑点特征的物理量是

    A.NEQ、DQE

    B.MTF

    C.RMS、WS

    D.ROC

    E.SNR


    参考答案：C

  • 第14题：

    下列描述，错误的为

    A、RMS曲线--照片斑点

    B、HD特性曲线--屏-片体系感度

    C、ROC曲线--影像感兴趣区

    D、MTF-影像清晰度

    E、WS曲线--影像颗粒度


    参考答案：C

  • 第15题：

    关于RMS的说法不正确的是（）

    • A、描述噪声特性
    • B、测量RMS需要显微密度计
    • C、可以用于比较不同屏-片组合的噪声特性
    • D、RMS越大，系统噪声越小
    • E、RMS可以评价照片斑点

    正确答案:D

  • 第16题：

    关于照片影像质量客观评价的叙述，错误的是（）。

    • A、以物理量进行的评价为客观评价
    • B、可通过特性曲线进行测试
    • C、MTF是评价像质的好方法
    • D、WS是调制传递函数的缩写
    • E、RMS是照片颗粒度均方根值的缩写

    正确答案:D

  • 第17题：

    成像系统中输出信噪比平方与输入信噪比平方比为（）

    • A、MTF
    • B、ROC
    • C、DQE
    • D、NEQ
    • E、RMS

    正确答案:C

  • 第18题：

    描述X射线照片斑点特征的物理量是（）

    • A、NEQ、DQE
    • B、MTF
    • C、RMS、WS
    • D、ROC
    • E、SNR

    正确答案:C

  • 第19题：

    用哪些物理量可描述超声场的特征？


    正确答案: 描述超声场的特征值主要有声压、声强和声阻抗。

  • 第20题：

    单选题
    描述X线照片斑点特征的物理量是（）
    A

    NEQ、DQE

    B

    MTF

    C

    RMS、WS

    D

    ROC

    E

    SNR


    正确答案： E
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    填空题
    RMS和WS是描述成像系统的（）特征的物理量。

    正确答案： 噪声
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    填空题
    使用RMS系统的油站，在接到（）和（）后，油站经理应将油站的天书的内容更新，同时要确保RMS系统每天与公司总部系统交换数据。

    正确答案： 新商品通告,天书
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    关于RMS的说法不正确的是（）
    A

    描述噪声特性

    B

    测量RMS需要显微密度计

    C

    可以用于比较不同屏-片组合的噪声特性

    D

    RMS越大，系统噪声越小

    E

    RMS可以评价照片斑点


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

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