沾污引起的电学缺陷引起（），硅片上的管芯报废以及很高的芯片制造成本。A、不会影响成品率B、晶圆缺陷C、成品率损失D、晶圆损失

第1题：

第2题：

裂纹是焊接结构中危险性比较大的缺陷之一，轻者裂纹会使产品报废，重者裂纹会引起严重的灾害性事故。

正确答案:正确

第3题：

什么是硅片的自然氧化层？由自然氧化层引起的三种问题是什么？

正确答案:自然氧化层：如果曝露于室温下的空气或含溶解氧的去离子水中，硅片的表面将被氧化。这一薄氧化层称为自然氧化层。硅片上最初的自然氧化层生长始于潮湿，当硅片表面暴露在空气中时，一秒钟内就有几十层水分子吸附在硅片上并渗透到硅表面，这引起硅表面甚至在室温下就发生氧化。
自然氧化层引起的问题是：
①将妨碍其他工艺步骤，如硅片上单晶薄膜的生长和超薄氧化层的生长。
②另一个问题在于金属导体的接触区，如果有氧化层的存在，将增加接触电阻，减少甚至可能阻止电流流过。
③对半导体性能和可靠性有很大的影响

第4题：

沾污是指半导体制造过程中引入半导体硅片的任何危害微芯片（）的不希望有的物质。

• A、功能
• B、成品率
• C、物理性能
• D、电学性能
• E、外观

正确答案:B,D

第5题：

普通温度表安置在百叶箱内是为了避免沾污引起的误差。

正确答案:错误

第6题：

终端质量不好容易引起电学回声。（）

正确答案:错误

第7题：

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

第14题：

例举并描述硅片拣选测试中的三种典型电学测试。

正确答案:硅片拣选测试中的三种典型电学测试：
（1）DC测试：第一电学测试是确保探针和压焊点之间良好电学接触的连接性检查。这项检查保证了技术员的测试仪安装正常。
（2）输出检查：硅片挑选测试用来测试输出信号以检验芯片性能。主要验证输出显示的位电平（逻辑“1”或高电平，逻辑“0”或低电平），是否和预期的一致。
（3）功能测试：功能测试检验芯片是否按照产品数据规范的要求工作。功能测试软件程序测试芯片的所有方面，它将二进制测试图形加入被测器件并验证其输出的正确性。

第15题：

净化室将硅片制造设备与外部环境隔离，免受诸如（）的沾污。

• A、颗粒
• B、金属
• C、有机分子
• D、静电释放（ESD）
• E、水

正确答案:A,B,C,D

第16题：

一个生产手机的企业，包含哪些供应关系：（）

• A、芯片供应商
• B、硅片
• C、客户
• D、营销渠道

正确答案:A,B,C,D

第17题：

锻件中的白点是白色沾污，不是缺陷。

正确答案:错误

第18题：

柴油长期沾污在人的皮肤上，会引起皮肤上的慢性病。

正确答案:正确

第19题：

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：