硅片关键尺寸测量的主要工具是什么？

题目

硅片关键尺寸测量的主要工具是什么？

相似考题

1.用来测量零件尺寸的工具称()。

2.测量“O”型圈的尺寸所使用的测量工具是投影仪或工具显微镜。()此题为判断题(对，错)。

3.在硅片制造中光刻胶的两种目的是什么？

4.万能工具显微镜主要用来测量机械工具及零件的长度尺寸和几何形状。( )此题为判断题(对，错)。

更多“硅片关键尺寸测量的主要工具是什么？”相关问题

  • 第1题：

    高度卡尺的主要用途是（）

    • A、测量高度尺寸
    • B、精密划线
    • C、测量高度尺寸和测深
    • D、测量高度尺寸和精密划线

    正确答案:D

  • 第2题：

    测量“O”型圈的尺寸所使用的测量工具是投影仪或工具显微镜。


    正确答案:正确

  • 第3题：

    工具显微镜用来测量条空尺寸偏差。


    正确答案:正确

  • 第4题：

    （）是用来测量工件几何尺寸的一种特殊工具。

    • A、量具
    • B、工具
    • C、分度头
    • D、样板

    正确答案:A

  • 第5题：

    （）是控制几何尺寸最基本、最关键的手段。

    • A、放线测量
    • B、施工测量
    • C、返工复测
    • D、竣工测量

    正确答案:A

  • 第6题：

    （）是控制几何尺寸最基本、最关键的手段。

    • A、放线测量
    • B、施工测量
    • C、返工测量
    • D、竣工测量

    正确答案:A

  • 第7题：

    尺寸测量是零件测绘过程中的重要步骤，测量尺寸时，下列说法错误的是（）。

    • A、可以任意选择测量工具
    • B、有配合关系的尺寸，要根据设计要求查阅有关手册确定
    • C、自由尺寸或不重要的尺寸，允许将测量所得的尺寸适当圆整
    • D、对于螺纹、键槽等结构，其测量结果应与标准值核对

    正确答案:A

  • 第8题：

    万能工具显微镜主要用来测量机械工具及零件的长度尺寸和几何形状。


    正确答案:正确

  • 第9题：

    简述测量热导率的关键是什么？


    正确答案: （1）建立稳恒态，测定稳恒状态下待测物体上下表面的温度。 
    （2）测定稳恒状态下待测物体内的热流速率φ。

  • 第10题：

    单选题
    （）是控制几何尺寸最基本、最关键的手段。
    A

    放线测量

    B

    施工测量

    C

    返工测量

    D

    竣工测量


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    判断题
    CD是指硅片上的最小特征尺寸。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    判断题
    各种车身的修复，都不要使用测量工具测量车身尺寸。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    在拉丝过程中测量公差尺寸的测量工具是（）。

    • A、游标卡尺
    • B、千分尺
    • C、直尺

    正确答案:B

  • 第14题：

    软尺是用来测量（）尺寸的必备工具。


    正确答案:人体部位

  • 第15题：

    用来测量条空尺寸偏差（）

    • A、测厚仪
    • B、工具显微镜

    正确答案:B

  • 第16题：

    各种车身的修复，都不要使用测量工具测量车身尺寸。


    正确答案:错误

  • 第17题：

    控制构筑物几何尺寸最基本最关键的手段是（）。

    • A、复测
    • B、放样测量
    • C、施工测量
    • D、竣工测量

    正确答案:B

  • 第18题：

    在实地尺寸测量中，专业测量的工具包括：（）、（）、（）、（）、（）、（）、（）等。


    正确答案:水平仪；水平尺；卷尺；90°角尺；量角器；测距轮；激光测量仪

  • 第19题：

    万能工具显微镜可根据不同的测量项目，选用不同的操作方法，从总体上可分为（）。

    • A、线性尺寸测量
    • B、角度尺寸测量
    • C、相对测量
    • D、绝对测量
    • E、直角坐标测量
    • F、极坐标测量

    正确答案:A,B

  • 第20题：

    零件尺寸测量时，应根据零件的结构形状及（）要求选定合适的测量工具。


    正确答案:精度

  • 第21题：

    问答题
    硅片表面吸附杂质清洗顺序是什么？

    正确答案： 清洗顺序：去分子－去离子－去原子－去离子水冲洗－烘干、甩干
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    控制构筑物几何尺寸最基本最关键的手段是（）。
    A

    复测

    B

    放样测量

    C

    施工测量

    D

    竣工测量


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    问答题
    硅片关键尺寸测量的主要工具是什么？

    正确答案： 硅片关键尺寸测量的主要工具是扫描电子显微镜（SEM），它能放大10万到30万倍，这明显高于光学显微镜，用扫描电子显微镜观测硅片的横截面部分能提供缺陷的信息，常与其他分析技术结合使用，如EDX或FIB。
    解析： 暂无解析

相关内容