用底面反射的方法校准探测灵敏度时,底面所在的部位可以是任意的。()
第1题:
第2题:
斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()
第3题:
用底波法校准灵敏度时,如底面粗糙或粘有水迹,将会使底波降低,这样利用底波校准的灵敏度将会降低,缺陷定量将会偏小。
第4题:
在探测工件侧壁附近的缺陷时,由于存在着(),所以探伤灵敏度会明显偏低。
第5题:
TB/T2658.21-2007规定,探伤仪动态范围测量,连接探头并在试块上探测()反射波作为参照波.
第6题:
斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。
第7题:
用底面的方法校准探测灵敏度时,底面所在的部位可以是任意的。
第8题:
没有底面回波
有底面回波
有大型缺陷回波时底面回波消失
有大型缺陷回波时有底面回波
第9题:
反射法
穿透法
底面多次回波法
底面一次回波反射法法
第10题:
对
错
第11题:
对
错
第12题:
没有底面回波
有底面回波
有大型缺陷回波,底面回波消失
缺陷回波和底面回波同时存在
第13题:
对于300mm厚的实心钢锻件,要求探伤灵敏度为Ø2,平底孔当量超声波频率为2.5MHz,若用底面回波反射法调节探伤灵敏度,当底面反射回波达到基准高度后,应提高多少的增益量()
第14题:
采用大平底反射波探测锻件时,一定注意底面的()
第15题:
用试件底面的方法校准探测灵敏度时,底面所在部位应平整()。
第16题:
在一定灵敏度下探测材料时,材质衰减越大则底面回波()
第17题:
当底面粗糙有水、油或当大平底底面与探测面不平行时,将使底面反射率降低,底波高度下降,这样调节的灵敏度将会()。
第18题:
用2.5P20Z直探头探测厚400mm的钢试件,探测要求为直径φ4mm当量平底孔直径,试用底面法调整探伤灵敏度。(CL=5900m/s)
第19题:
用试块的方法校准探测灵敏度时,为了避免修正,应采用实物对比试块。
第20题:
对
错
第21题:
与探测面平行的大平底面
R200的凹圆柱底面
R200的凹球底面
R200的凸圆柱底面
第22题:
不变
偏低
偏高
任意
第23题: