在密度测井中,长源矩计数率受泥饼影响(),短源距受泥饼影响()。
第1题:
在渗透性层段上,微梯度的测量结果受()影响大,而微电位主要受()的影响。
第2题:
影响泥浆静失水的因素有泥饼的()等。
第3题:
密度长源距探测器得到的伽玛射线主要是泥饼的贡献。
第4题:
补偿密度测井使用两个探测器是为了补偿井壁泥饼和()的影响。
第5题:
在下列三种测井方法中()测井受泥饼影响最小。
第6题:
钻井液侵入剖面依次为()。
第7题:
微电极测井曲线不能确定冲洗带电阻率及泥饼厚度。
第8题:
岩性密度测井仪本底各窗口的计数率(在稳谱状态)一般在下列范围:长源距窗口计数率(NLS)为(),短源距窗口计数率(NSS)为();岩性能窗口计数率(NLITH)为()。
第9题:
在渗透行地层上,存在泥饼,使()α不等于(),必须作校正,通常采用带有()探测器的补偿密度测井仪。
第10题:
邻近侧向的探测范围比微侧向(),受泥饼影响程度比微侧向()。
第11题:
简要说明微球聚焦测井仪极板Mo泥饼校正电极的作用。
第12题:
井径
地层的电阻率
泥饼
钻井液的导电性
第13题:
泥炮泥缸尾部积泥故障,是由于泥饼小或泥饼磨损严重出现较大缝隙所致。
第14题:
打泥后,()保不住,泥饼后退,应将泥饼顶到原位并联系处理。
第15题:
微球测井的探测深度受泥饼的影响()微侧向。
第16题:
微球形聚焦测井,其测量结果受泥饼影响(),径向探测深度也减(),所以它能较好的求出()的电阻率。
第17题:
补偿密度测井是利用长短源距探测出的密度差值补偿泥饼影响的密度测井。
第18题:
简述影响滤失量与泥饼质量的几种因素。
第19题:
为了减少井眼、套管、泥饼对测量的影响,补偿中子测井仪将两个He-3探测器安装在离中子源距离不同的位置上,用它们的两个计数率的比值来反映地层孔隙度的大小。
第20题:
在测定Pe值时,需用()低能窗也称岩性窗LITH能量在60keV~100keV的计数率和()高能窗能量在200keV~549keV之间的计数率。
第21题:
密度测井使用双源距是为了补偿下列哪种因素对测量结果的影响()
第22题:
微球形聚焦测井与微侧向测井均可用来探测()带,但前者受泥饼影响()于后者。
第23题:
cm
dm
mm
mm2