X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。

题目

X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。

相似考题

1.简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。

2.X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。

3.X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性

4.在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。

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  • 第1题：

    X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。

    • A、增大
    • B、减小
    • C、不变
    • D、无变化

    正确答案:B

  • 第2题：

    X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。


    正确答案:错误

  • 第3题：

    X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。


    正确答案:正确

  • 第4题：

    在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。


    正确答案:正确

  • 第5题：

    X射线荧光光谱仪上，采用W靶X射线管适于分析重元素：Cr靶X射线管适于分析轻元素，而（）靶X射线管则在一定程度上，却对轻、重元素的分析都能兼顾。


    正确答案:Rh

  • 第6题：

    X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？


    正确答案: （1）有足够的代表性；
    （2）试样均匀；
    （3）表面平整、光洁、无裂纹；
    （4）试样有足够的厚度；
    （5）在X射线照射及真空条件下，试样稳定不变形，不起化学变化。

  • 第7题：

    X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。

    • A、特征光谱
    • B、连续光谱
    • C、带状光谱
    • D、散射线

    正确答案:B

  • 第8题：

    在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。

    • A、一次X射线
    • B、二次X射线
    • C、由X射线管直接产生的X射线
    • D、由高速电子流产生的X射线

    正确答案:B

  • 第9题：

    X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。


    正确答案:正确

  • 第10题：

    用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？


    正确答案:（1）内标物中的元素与被测元素的激发X射线波长相近。即内标物元素的原子序数应与被测元素相近。
    （2）基体对二者的X射线荧光吸收相近，即基体效应可相互抵消。
    （3）原样品中一定不能含有明显数量级的内标元素。

  • 第11题：

    判断题
    在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    问答题
    利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么？X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍（B）—铀（U），为什么不能分析轻元素（氢、氦和锂）？

    正确答案： 利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是莫塞莱定律、布拉格定律和朗伯比尔定律。
    因为X射线荧光光谱分析是利用元素的特征X射线，而氢和氦原子只有K层电子，不能产生特征X射线，所以无法进行荧光光谱分析。锂原子虽然能产生X射线，但产生的特征X射线波长太长，通常无法进行检测。
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应


    正确答案: 基体是指样品中除分析元素外的其它组成元素，由于分析元素的受到样品内其它元素的影响，发生强度减弱或增强，从而破坏X射线荧光的强度与浓度的线性关系，这种影响称为基体效应。

  • 第14题：

    X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。


    正确答案:错误

  • 第15题：

    X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）

    • A、定性分析
    • B、定量分析
    • C、都不是

    正确答案:A,B

  • 第16题：

    X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。

    • A、谱线
    • B、波长
    • C、特征线
    • D、强度

    正确答案:B,D

  • 第17题：

    影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的（）、（）两类。


    正确答案:吸收增强效应，物理化学效应

  • 第18题：

    简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？


    正确答案: 在X射线荧光光谱分析中，分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。基体效应包括吸收和增强两种效应。
    消除基体效应的方法有稀释法、薄膜样品法、吸收校正法、数学处理方法等。

  • 第19题：

    X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。

    • A、特征光谱
    • B、散射线
    • C、带状光谱
    • D、连续光谱

    正确答案:D

  • 第20题：

    试样受X射线照射后，其中各元素原子的（）被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线，或称为X射线荧光。

    • A、外层电子
    • B、内层电子
    • C、原子
    • D、高能电子

    正确答案:B

  • 第21题：

    用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）

    • A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近
    • B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近
    • C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大
    • D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大

    正确答案:A

  • 第22题：

    问答题
    简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。

    正确答案： 基体：就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
    造成这一现象的原因主要有：
    吸收—增强效应，在复杂的样品中，元素间的相互影响，引起IK的变化；
    非均匀效应，该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等；
    表面效应，由于表面不平整，大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
    克服或校正基体效应—忽略基体效应
    基体匹配法：使用与未知样基体组成相似的标准样品，常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性（或二次曲线）
    薄试样法：当试样的厚度仅为几百或几千埃时，其基体效应可以忽略
    克服或校正基体效应—减小基体效应
    使用稀释剂将样品进行高倍稀释和（或）添加重吸收剂，使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
    克服或校正基体效应—补偿基体效应
    内标法：在试样内加入已知量的内标元素，该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似；在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间，不可有主量元素的特征谱线存在。
    标准加入法：在未知样中加入一定量的待测元素，比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化；常用于复杂试样中单个元素的测定。
    散射比法：试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似，也就是说，它们的强度比与试样无关；所选的散射线可以是：X光管靶材的相干和非相干散射线，试样对原级谱的连续谱的散射（即背景）；所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线，所选散射线有足够的强度。
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）
    A

    内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近

    B

    内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近

    C

    内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大

    D

    两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

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