一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。

第1题：

检测电力设备局部放电的目的在于反映其（）。

• A、高温缺陷；
• B、机械损伤缺陷；
• C、伴随局部放电现象的绝缘缺陷；
• D、变压器油整体受潮缺陷。

第2题：

在一般情况下，介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。

第3题：

绝缘体有缺陷时，其介损tgδ将随试验（）升高而变（）。

第4题：

介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态，正确的是（）。

• A、对局部缺陷反应灵敏，对整体缺陷反应不灵敏；
• B、对整体缺陷反应灵敏，对局部缺陷反应不灵敏；
• C、对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏；
• D、对局部缺陷和整体缺反应都灵敏。

第5题：

在运行中的变压器发生异常时，通过进行（）可以发现变压器铁心磁路中的局部和整体缺陷。

• A、绕组介损试验
• B、空载试验
• C、套管电容量测试
• D、绕组绝缘电阻

第6题：

介损tgδ不能发现的缺陷有（）。

• A、整体受潮
• B、劣化
• C、大体积绝缘的集中性缺陷
• D、小体积绝缘的集中性缺陷

第7题：

测量变压器整体对地介损tgδ，可采用介损仪正接线及反接线。

第8题：

电压致热型引起的发热可以反映设备的内部缺陷和外部缺陷，但是不包括以下哪一种缺陷（）

• A、接触电阻增大
• B、泄漏电流增大
• C、介损增大
• D、表面有裂纹

第9题：

在现场采用介损仪测量设备的介损tgδ时，若存在电场干扰，则在任意测试电源极性的情况下，所测得tgδ值一定比真实的tgδ增大。

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。

第14题：

介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。

第15题：

测量介质损耗因数，通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。

• A、整体受潮
• B、整体劣化
• C、小体积试品的局部缺陷
• D、大体积试品的局部缺陷

第16题：

变压器套管整体绝缘显著降低，能够有效发现缺陷的可能试验项目是（）。

• A、直流电阻
• B、阻抗测量
• C、套管绝缘电阻
• D、套管介损

第17题：

介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态，但（）

• A、对局部缺陷反应灵敏，对整体缺陷反应不灵敏
• B、对整体缺陷反应灵敏，对局部缺陷反应不灵敏
• C、对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏

第18题：

在一般情况下，介质损耗试验主要反映设备的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏

第19题：

在一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。

第20题：

通常把绝缘电阻、泄漏电流、介损tgδ、油的化学性能等的试验叫作绝缘的予防性试验，试说明这些试验项目可以发现的绝缘缺陷的类型。

第21题：

变电所高压电气设备试验项目包括（）

• A、绝缘电阻的测量
• B、直流高压试验
• C、介损tgδ的测定
• D、交流耐压试验

第22题：

第23题：