35kV及以下设备外绝缘及绝缘子盘形瓷绝缘子零值检测基准周期是（）。A、1年B、2年C、3年D、4年

第1题：

红外检测220kV线路用盘形悬式瓷绝缘子时发现，从高压端数起第3片绝缘子的温度比相邻绝缘子温度要低，则以下说法不正确的是（）。

• A、该绝缘子表面污秽程度严重
• B、该绝缘子的绝缘电阻可能为10MΩ左右
• C、该绝缘子可能为低值绝缘子
• D、该绝缘子可能为零值绝缘子

第2题：

带电检测绝缘子，使用火花间隙检测器检测绝缘子时，应遵守（）规定。

• A、检测35kV电压等级的绝缘子串时，当发现同一串中的零值绝缘子片数达到2片时。应立即停止检测
• B、针式及少于3片的悬式绝缘子不得使用火花间隙检测器进行检测
• C、检测前应对检测器进行检测，保证操作灵活，测量准确
• D、应在干燥天气进行
• E、检测35kV电压等级的绝缘子串时，当发现同一串中的零值绝缘子片数达到1片时。应立即停止检测

第3题：

在轻、中污区（II级及以下），复合绝缘子的爬电距离（）盘型绝缘子；在重污区（III级及以上），其爬电距离（）盘型绝缘子最小要求值的3/4；瓷棒绝缘子爬电距离应不小于盘型绝缘子

第4题：

在35kV电压等级线路上进行绝缘子检测时，在同一串绝缘子上发现一片零值绝缘子时，应停止检测工作。

第5题：

对于盘形悬式瓷质绝缘子，每年宜进行（）的检测，发现（）绝缘子应及时更换

第6题：

加强零值、低值瓷绝缘子的检测，及时更换自爆玻璃绝缘子及零值、低值瓷绝缘子。（）

第7题：

检测35kV及以上电压等级的绝缘子串时，当发现同一串中的零值绝缘子片数超标时，应立即申请停电。

第8题：

35kV及以下设备外绝缘及绝缘子盘形瓷绝缘子零值检测基准周期：（）年。

• A、1
• B、2
• C、3
• D、4

第9题：

加强瓷、玻璃绝缘子的检查，及时更换零值、低值及破损绝缘子。（）

第10题：

110（66）~750kV盘形瓷绝缘子零值检测检测周期为（）

• A、1年
• B、2年
• C、3年
• D、4年

第11题：

盘形瓷绝缘子零值监测时，当绝缘电阻小于（）MΩ时，加屏蔽环重新测量，仍然小于（）MΩ时，判定为零值绝缘子。

• A、100，100
• B、200，200
• C、500，500
• D、1000，1000

第12题：

第13题：

盘形瓷绝缘子零值检测周期为（）雷电日/年，500kV线路的基准周期为（）年，采用轮试。

• A、10，2
• B、20，3
• C、30，4
• D、40，5

第14题：

使用火花间隙检测一串4片绝缘子的35kV设备时，零值绝缘子达到（）片时，应立即停止检测。

• A、1；
• B、2；
• C、3；
• D、4。

第15题：

在35kV电压等级线路上进行零值绝缘子检测，在同一串绝缘子上发现一片零值绝缘子时，应立即停止检测

第16题：

检修人员应加强（）的检测，及时更换自爆玻璃绝缘子及零值、低值瓷绝缘子。

第17题：

加强零值、低值瓷绝缘子的检测，及时更换（）及零值、低值瓷绝缘子。

• A、自爆玻璃绝缘子
• B、玻璃绝缘子
• C、复合绝缘子
• D、钢化玻璃绝缘子

第18题：

检测35kV及以上电压等级的绝缘子串时，当发现同一串中的零值绝缘子片数超标时，应立即换一支检测器再次确认。

第19题：

防止输变电设备污闪，应加强零值、低值瓷绝缘子的检测，及时更换（）。

• A、自爆玻璃绝缘子；
• B、老旧绝缘子；
• C、损坏绝缘子；
• D、零值瓷绝缘子；
• E、低值瓷绝缘子。

第20题：

关于设备外绝缘及绝缘子盘形瓷绝缘子零值检测，说法正确的是（）。

• A、条件不具备时，进行红外热像精确测温，着重温度分布的测量
• B、采用轮试的方法，即每年检测一部分，一个周期内完成全部普测
• C、如某批次的盘形瓷绝缘子零值检出率明显高于运行经验值，则对于该批次绝缘子应酌情缩短零值检测周期
• D、自上次检测以来又发生了新的闪络、或有新的闪络痕迹的，也应列入最近的检测计划

第21题：

以下哪种绝缘子具有零值“自爆”的特点，（）。

• A、瓷质绝缘子
• B、玻璃绝缘子
• C、复合绝缘子
• D、棒式绝缘子

第22题：

防止输变电设备污闪，应加强零值、低值瓷绝缘子的检测，及时更换及（）。

• A、自爆玻璃绝缘子；
• B、老旧绝缘子；
• C、损坏绝缘子；
• D、零值瓷绝缘子；
• E、低值瓷绝缘子。

第23题：