使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。

第1题：

第2题：

用平晶测量平面度误差时应如何评定？

正确答案: 应用光学平晶测量小平面，测量时将平晶贴于被测表面上，若被测表面内凹或外凸，就会出现环形干涉带，根据环形干涉带数与光波的半波长的乘积来表示平面度误差。如果干涉条纹不封闭，可使光学平晶与被测表面间略微倾斜一个角度，使两者之间形成一空气楔。这种按干涉带的弯曲度与相邻两干涉带之间的比值，再乘以半波长即得误差值。不过，按此法评定的误差实际上是以直线度误差代替了平面度误差。
过去用平晶只能测小平面。近年来有了平晶干涉仪，应用这种仪器也可以利用平晶干涉法来测量较大的平面。

第3题：

平面平晶法多用于测量（）水平面的工件。

正确答案:高精度

第4题：

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。

正确答案:错误

第5题：

在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）。

• A、变凹
• B、变凸
• C、不变

正确答案:A

第6题：

对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。

正确答案:错误

第7题：

检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？

正确答案:主要原因是平晶与测量面之间夹角太大，或操作时不注意使测量面上带有脏物所致。

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

常用的平面度的测量方法（）。

• A、光隙法
• B、测微仪法
• C、平晶法
• D、水平仪法

正确答案:A,B,C,D

第14题：

测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。

正确答案:越大

第15题：

用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。

正确答案:成组

第16题：

如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？

正确答案: 检定平面度时，使用平面平晶接触测量面后，调出干涉带，按干涉带的形状计算其平面度。
检定平行度时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，使两测量面与平晶接触，并调整平晶使其接触点在同一侧，干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。

第17题：

测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？

正确答案:测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面平行度的检定，所用的平行平晶尺寸为（40~41）mm中依次间隔（0.12~0.13）mm四个尺寸，如40.00、40.12、40.25和40.37mm。

第18题：

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？

正确答案:用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度是根据平行平晶与两测量面的接触点在同一侧时，所产生的干涉条纹数确定。千分尺两测量面的平行度，是以其中一块平行平晶检定时产生干涉条纹数最多的确定。

第19题：

千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。

正确答案:正确

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：