对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）A、主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况B、客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况C、常用的检测方法有RMS的测量D、常用的检测方法有维纳频谱的测量E、MTF用米测量颗粒度

题目

对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）

  • A、主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况
  • B、客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况
  • C、常用的检测方法有RMS的测量
  • D、常用的检测方法有维纳频谱的测量
  • E、MTF用米测量颗粒度
相似考题

1.下列属于主观评价的方法是A.维纳频谱(WS)B.量子检出效率(DQE)C.照片颗粒度均方根值(RMS)D.调制传递函数(MTF)E.观测者操作特性曲线(ROC)

2.关于X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况C.常用的检测方法有RMS的测量D.常用的检测方法有维纳频谱的测量E.MTF用来测量颗粒度

3.评价X线胶片的影像质量参数有A.颗粒度B.分辨率C.清晰度D.感色性S评价X线胶片的影像质量参数有A.颗粒度B.分辨率C.清晰度D.感色性E.胶片的MTF

4.干式常用分级法是利用微粒的()不同进行颗粒测量。A、粒径B、密度C、质量D、粘度

更多“对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）A、主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况B、客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况C、常用的检测方法有RMS的测量D、常用的检测方法有维纳频谱的测量E、MTF用米测量颗粒度”相关问题

  • 第1题：

    下列组合中错误的是

    A.RMS——颗粒性

    B.DQE——噪声等价量子数

    C.MTF——分辨力

    D.WS——维纳频谱

    E.ROC—受试者操作特性曲线


    正确答案：B

  • 第2题：

    所谓X线照片噪声，是指

    A、荧光体颗粒

    B、乳剂银颗粒

    C、荧光体颗粒组合

    D、X线照片斑点

    E、X线照片的颗粒度


    参考答案：D

  • 第3题：

    关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是

    A．物理测定值为颗粒度

    B．X线量了斑点影响照片颗粒性

    C．X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声

    D．增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素

    E．量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录


    正确答案：D
    D。人们所看到的X线照片斑点通常被认为主要是量子斑点形成的，占整个X线照片斑点的92%。

  • 第4题：

    对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是

    A．主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况

    B．客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况

    C．常用的检测方法有RMS的测量

    D．常用的检测方法有维纳频谱的测量

    E．MTF用来测量颗粒度


    正确答案：E
    E。MTF是焦点的调制传递函数。

  • 第5题：

    关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是

    A.物理测定值为颗粒度

    B.X线量子斑点影响照片颗粒性

    C.X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声

    D.增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素

    E.量子斑点是X线量子的统计涨落在照片E记录


    正确答案：D
    人们所看到的X线照片斑点通常被认为主要是量子斑点形成的，占整个X线照片斑点的92％。

  • 第6题：

    下列组合错误的是

    A.RMS-颗粒性
    B.DQE-噪声等价量子数
    C.MTF-分辨力
    D.WS-维纳频谱
    E.ROC-受试者操作特性曲线

    答案：B
    解析：
    DQE是量子检测效率。

  • 第7题：

    关于照片影像质量客观评价的叙述，错误的是（）。

    • A、以物理量进行的评价为客观评价
    • B、可通过特性曲线进行测试
    • C、MTF是评价像质的好方法
    • D、WS是调制传递函数的缩写
    • E、RMS是照片颗粒度均方根值的缩写

    正确答案:D

  • 第8题：

    所谓X线照片噪声，是指（）

    • A、荧光体颗粒
    • B、乳剂银颗粒
    • C、银颗粒、荧光体颗粒组合
    • D、X线照片斑点
    • E、X线照片的颗粒度

    正确答案:D

  • 第9题：

    关于X线照片颗粒度的叙述，正确的是（）.

    • A、照片图像粗糙或砂砾状效果称为颗粒性
    • B、物理测定值为颗粒度
    • C、照片上一定区域内大量集中的不规则的颗粒为斑点
    • D、量子斑点是X线量子的统计涨落的记录
    • E、以上全是

    正确答案:E

  • 第10题：

    单选题
    对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）
    A

    主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况

    B

    客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况

    C

    常用的检测方法有RMS的测量

    D

    常用的检测方法有维纳频谱的测量

    E

    MTF用米测量颗粒度


    正确答案： D
    解析： 以上选项只有E不正确。

  • 第11题：

    问答题
    同一颗粒由于定义和测量的方法不同，所得到的粒径值也不同，常用的表示粒径的方法主要有哪些。

    正确答案： 演算直径：通过测定某些与颗粒大小有关的性质（如表面积、体积等），在一定条件下或通过一定的公式推导出的具有线性量纲的“虚拟直径”
    三轴径：以l、b、h定义的粒度平均值称为“三轴径”
    定向径：Feret径、Martin径、定向最大径
    当量径：球当量径、圆当量径
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    属于主观评价的方法是（　　）。
    A

    维纳频谱（WS）

    B

    量子检出效率（DQE）

    C

    照片颗粒度均方根值（RMS）

    D

    调制传递函数（MTF）

    E

    观测者操作特性曲线（ROC）


    正确答案： E
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    所谓X线照片噪声,是指A.荧光体颗粒B.乳剂银颗粒C.银颗粒、荧光体颗粒组合SX

    所谓X线照片噪声，是指

    A.荧光体颗粒

    B.乳剂银颗粒

    C.银颗粒、荧光体颗粒组合

    D.X线照片斑点

    E.X线照片的颗粒度


    正确答案：D

  • 第14题：

    对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是

    A、主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况

    B、客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况

    C、常用的检测方法有RMS的测量

    D、常用的检测方法有维纳频谱的测量

    E、MTF用米测量颗粒度


    参考答案：E

  • 第15题：

    属于主观评价的方法是

    A．威钠频谱(WS)

    B．量子检出效率(DQE)

    C．照片颗粒度均方根值(RMS)

    D．调制传递函数(MTF)

    E．观测者操作特性曲线(ROC)


    正确答案：E
    E。只有ROC属于主观评价方法，其他均为客观评价影像质量的方法。

  • 第16题：

    关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是

    A．物理测定值为颗粒度

    B．X线量子斑点影响照片颗粒性

    C．X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声

    D．增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素

    E．量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上记录


    正确答案：D

  • 第17题：

    所谓X线照片噪声，是指

    A.乳剂银颗粒
    B.荧光体颗粒
    C.银颗粒、荧光体颗粒组合
    D.X线照片的颗粒度
    E.X线照片斑点

    答案：E
    解析：
    X线照片噪声指的是X线照片斑点。

  • 第18题：

    关于胶片颗粒性及颗粒度的描述，错误的是（）

    • A、胶片颗粒性是胶片的影像质量参数之一
    • B、胶片经曝光、显影加工后，形成影像银粒的大小及分布状态称胶片颗粒性
    • C、表示颗粒性的量度值为颗粒度
    • D、颗粒度小的胶片，照片影像细腻、清晰度高
    • E、颗粒度主要受量子斑点的影响，而与增感屏的结构斑点无关

    正确答案:E

  • 第19题：

    对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）

    • A、主观性颗粒质量--肉眼观察获得的颗粒状况
    • B、客观性颗粒质量--物理学检查的颗粒状况
    • C、常用的检测方法有RMS的测量
    • D、常用的检测方法有维纳频谱的测量
    • E、MTF用来测量颗粒度

    正确答案:E

  • 第20题：

    库尔特颗粒计数器，是一种运用（）方法测量颗粒直径的仪器。

    • A、化学
    • B、电子学
    • C、物理学
    • D、数学

    正确答案:B

  • 第21题：

    单选题
    对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（　　）。
    A

    主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况

    B

    客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况

    C

    常用的检测方法有RMS的测量

    D

    常用的检测方法有维纳频谱的测量

    E

    MTF用来测量颗粒度


    正确答案： C
    解析：
    MTF是焦点的调制传递函数。

  • 第22题：

    填空题
    照片颗粒性大小测量法有主、客观测量法。客观法常用的主要有（）颗粒度和（）法。

    正确答案： RMS（均方根值）,维纳频谱
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是（　　）。
    A

    物理测定值为颗粒度

    B

    X线量子斑点影响照片颗粒性

    C

    X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声

    D

    增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素

    E

    量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录


    正确答案： E
    解析：
    人们所看到的X线照片斑点通常被认为主要是量子斑点形成的，占整个X线照片斑点的92％。

  • 第24题：

    单选题
    所谓X线照片噪声，是指（　　）。
    A

    荧光体颗粒

    B

    乳剂银颗粒

    C

    银颗粒、荧光体颗粒组合

    D

    X线照片斑点

    E

    X线照片的颗粒度


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

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