测量控制体系采用的方法包括()A、校准B、检定C、检查D、应用统计技术对测量过程的变异做出评价

题目

测量控制体系采用的方法包括()

  • A、校准
  • B、检定
  • C、检查
  • D、应用统计技术对测量过程的变异做出评价

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  • 第1题:

    测量控制体系的目标,在于控制( )产生的不正确的测量结果及其影响。

    A.测量设备 B.测量设备的校准
    C.测量过程 D.测量设备的检定
    E.测量人员


    答案:A,C
    解析:
    测量控制体系是指为实现测量过程的连续控制和计量确认所需的一组相关的或相 互作用的要素。测量控制体系的目标,在于控制由测量设备和测量过程产生的不正确的测量结果及其影响。

  • 第2题:

    测量控制体系由()及其它组成。

    • A、测量仪器的校准控制
    • B、测量设备的计量确认
    • C、测量结果的分析校准
    • D、测量仪器实际工作范围
    • E、测量过程的变异评价

    正确答案:A,B,C,E

  • 第3题:

    测量控制体系包括()。

    • A、测量设备的校准
    • B、测量设备的计量确认
    • C、测量设备的管理
    • D、测量过程实施的控制

    正确答案:B,C,D

  • 第4题:

    测量设备外委检定/校准单位的选择和资质管理见MCX.608《测量管理体系外部供方控制程序》。委外校准的工作流程见MCX.701《测量设备控制程序》。()


    正确答案:错误

  • 第5题:

    测量控制体系采用的方法不仅是测量设备的校准,检定,还包括()对测量过程的变异作出评价。

    • A、控制人为因素
    • B、控制环境影响
    • C、应用统计技术
    • D、确定测量特性值

    正确答案:C

  • 第6题:

    测量仪器控制可包括对测量仪器的()。

    • A、型式批准
    • B、检定
    • C、检验
    • D、校准

    正确答案:B,C

  • 第7题:

    以下有关测量控制体系的表述中正确的有()

    • A、测量控制体系,是指为实现测量过程的连续控制和计量确认所需的一组相关的或相互作用的要素
    • B、测量控制体系的目标,在于控制由测量设备和测量过程产生的不正确的测量结果及其影响
    • C、为保证测量控制体系满足规定的计量要求,所有测量设备都须经过计量确认,而且测量过程应受控
    • D、测量控制体系采用的方法不仅是测量设备的分析/控制,还包括应用统计技术对测量过程的变异做出评价
    • E、测量控制体系由两部分组成:测量设备的计量确认和测量过程实施的控制

    正确答案:A,B,C,E

  • 第8题:

    对测量仪器的控制包括()

    • A、检定
    • B、校准
    • C、型式批准
    • D、检验

    正确答案:A,C,D

  • 第9题:

    多选题
    测量控制体系的目标,在于控制(  )产生的不正确的测量结果及其影响。
    A

    测量设备

    B

    测量设备的校准

    C

    测量过程

    D

    测量设备的检定

    E

    测量人员


    正确答案: A,C
    解析: 测量控制体系是指为实现测量过程的连续控制和计量确认所需的一组相关的或相互作用的要素。测量控制体系的目标,在于控制由测量设备和测量过程产生的不正确的测量结果及其影响。

  • 第10题:

    多选题
    测量控制体系由()组成。
    A

    测量设备的计量确认

    B

    测量过程实施的控制

    C

    分析、控制

    D

    统计技术


    正确答案: C,A
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    多选题
    计量检定和校准的区别是()。
    A

    校准不具行政强制性,是企业自愿溯源行为;检定具有行政强制性,属计量管理的执法行为

    B

    校准主要确定测量器具的示值误差;检定是对测量器具的计量特性及技术要求的评定

    C

    校准的依据是校准规范、校准方法、可做统一规定也可自行制定;检定的依据是规程

    D

    校准不判断测量器具合格与否,应对校准结果是否满足使用要求进行确认;检定要对所检的测量器具做出合格与否的结论


    正确答案: A,D
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    多选题
    测量控制体系由下列()部分组成。
    A

    测量仪器的校准控制

    B

    测量设备的计量确认

    C

    测量结果的分析校准

    D

    测量过程实施的控制

    E

    测量过程的变异评价


    正确答案: B,C
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    下列关于测量控制体系的表述,正确的有( )。

    A.测量控制体系是指为实现测量过程的连续控制和计量确认所需的一组相关的或相互作 用的要素
    B.测量控制体系的目标在于控制由测量设备和测量过程产生的不正确的测量结果及其 影响
    C.为保证测量控制体系满足规定的计量要求,所有测量设备都须经过计量确认,而且测 量过程应受控
    D.测量控制体系采用的方法不仅是测量设备的分析/控制,还包括应用统计技术对测量 过程的变异做出评价
    E.测量控制体系由两部分组成:测量设备的计量确认和测量过程实施的控制


    答案:A,B,C,E
    解析:
    [解析】D项,测量控制体系采用的方法不仅是测量设备的校准/检定,还包括应用统计技 术对测量过程的变异做出评价。

  • 第14题:

    对测量仪器特性进行评定,一般采用()形式。

    • A、型式评价
    • B、检定
    • C、校准

    正确答案:A,B,C

  • 第15题:

    测量控制体系由下列()部分组成。

    • A、测量仪器的校准控制
    • B、测量设备的计量确认
    • C、测量结果的分析校准
    • D、测量过程实施的控制
    • E、测量过程的变异评价

    正确答案:C,D

  • 第16题:

    关键测量过程可以采用.利用核查标准制定控制图,采用统计技术对测量过程的全部要素实施监视和控制以及采用MSA方法分析和监控。()


    正确答案:正确

  • 第17题:

    测量控制体系由()组成。

    • A、测量设备的计量确认
    • B、测量过程实施的控制
    • C、分析、控制
    • D、统计技术

    正确答案:A,B

  • 第18题:

    计量检定和校准的区别是()。

    • A、校准不具行政强制性,是企业自愿溯源行为;检定具有行政强制性,属计量管理的执法行为
    • B、校准主要确定测量器具的示值误差;检定是对测量器具的计量特性及技术要求的评定
    • C、校准的依据是校准规范、校准方法、可做统一规定也可自行制定;检定的依据是规程
    • D、校准不判断测量器具合格与否,应对校准结果是否满足使用要求进行确认;检定要对所检的测量器具做出合格与否的结论

    正确答案:A,B,C,D

  • 第19题:

    以下校准和检定的区别哪几条是对的。()

    • A、校准不具有法制性;检定具有法制性
    • B、校准主要确定测量器具的示值误差;检定是对测量器具的计量特性及技术要求的全面评定
    • C、校准依据校准规范、校准方法,可自行制定;检定依据的是检定规程
    • D、校准不判断测量器具合格与否;检定要对所检的测量器具作出合格与否的结论
    • E、校准结果通常是发校准证书或校准报告;检定结果合格的发检定证书,不合格的发不合格通知书

    正确答案:A,B,C,D,E

  • 第20题:

    多选题
    测量控制体系采用的方法包括()
    A

    校准

    B

    检定

    C

    检查

    D

    应用统计技术对测量过程的变异做出评价


    正确答案: A,C
    解析: 暂无解析

  • 第21题:

    单选题
    测量控制体系采用的方法不仅是测量设备的校准,检定,还包括()对测量过程的变异作出评价。
    A

    控制人为因素

    B

    控制环境影响

    C

    应用统计技术

    D

    确定测量特性值


    正确答案: C
    解析: 暂无解析

  • 第22题:

    多选题
    测量控制体系采用的方法包括(  )。
    A

    校准

    B

    检定

    C

    检查

    D

    计量确认

    E

    应用统计技术对测量过程的变异做出评价


    正确答案: B,A
    解析: 测量控制体系,是指为实现测量过程的连续控制和计量确认所需的一组相关的或相互作用的要素。测量控制体系采用的方法不仅是测量设备的校准/检定,还包括应用统计技术对测量过程的变异做出评价。

  • 第23题:

    多选题
    测量控制体系由()及其它组成。
    A

    测量仪器的校准控制

    B

    测量设备的计量确认

    C

    测量结果的分析校准

    D

    测量仪器实际工作范围

    E

    测量过程的变异评价


    正确答案: B,C
    解析: 暂无解析