从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。A、过程处于统计控制状态B、具有足够的生产能力C、过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D、过程处于统计控制状态但过程能力不足

题目

从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。

  • A、过程处于统计控制状态
  • B、具有足够的生产能力
  • C、过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力
  • D、过程处于统计控制状态但过程能力不足
相似考题

1.过程能力指数Cp小于1.0表示（ ）。A.过程能力不足B.应该进过程C.应减少过程输出特性的表差D.过程未处于统计控制状态E.理论小过程中心和技术中心的偏移量

2.关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

3.关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。 A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态 B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态 C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进 D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力 E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态

4.根据上述计算结果，判断过程（ ）。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态

更多“从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。A、过程处于统计控制状态B、具有足够的生产能力C、过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D、过程处于统计控制状态但过程能力不足”相关问题

  • 第1题：

    绘制分析用控制图阶段的主要工作有（ ）。

    A.分析过程是否处于统计控制状态

    B.分析过程是否存在偶然波动

    C.实时分析数据，监控过程长期运行状态

    D.分析过程的过程能力指数是否满足要求

    E.分析过程合格率低的原因


    答案：A,D
    解析：
    。选项C为控制用控制图的工作。

  • 第2题：

    关于过程状态的说法，正确的有（ ）。

    A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小

    B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变

    C.过程处于统计控制状态时，CP≥1

    D.异常因素会导致过程失控

    E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态


    答案：A,B,D
    解析：
    。处于统计控制状态，只是表明此时可估计过程保证质量的水平，但不能说明过程能力指数大于等于1。选项E错误，当控制图上所有点子都落在控制限内时，且随机排列时，才可以判定过程处于统计控制状态。

  • 第3题：



    A.过程能力不足 B.应改进过程

    C应减小过程输出特性的标准差 D.过程未处于统计控制状态

    E.应减小过程中心和技术中心的偏移量


    答案：A,B,C
    解析：

  • 第4题：

    关于统计控制状态的说法，正确的有（ ）。

    A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内

    B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布

    C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态

    D.统计控制状态是指过程能力充足的状态

    E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态


    答案：A,B,C
    解析：
    。统计控制状态下的过程并不一定过程能力充足。

  • 第5题：

    过程改进策略包括（ ）两个环节。
    A.判断过程是否处于统计控制状态 B.评价过程能力
    C.判断过程是否处于异常状态 D.判断过程的离散程度
    E.质量改进


    答案：A,B
    解析：
    从过程改进策略图可看出，过程改进策略包括判断过程是否处于统计控制状态（即判稳）和评价过程能力两个环节。

  • 第6题：

    关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。
    A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品
    B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1
    C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态
    D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动
    E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的


    答案：C,D,E
    解析：
    。过程处于统计控制状态时，过程能力有可能不满足要求，所以选项A、B 错误。

  • 第7题：

    加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：
    μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。
    根据上述计算结果，判断过程（）。
    A.处于统计控制状态和技术控制状态
    B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态
    C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态
    D.未处于统计控制状态和技术控制状态


    答案：B
    解析：

  • 第8题：

    以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）

    • A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态
    • B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动
    • C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内
    • D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

    正确答案:C

  • 第9题：

    过程改进策略包括（）两个环节。

    • A、判断过程是否处于统计控制状态
    • B、评价过程能力
    • C、判断过程是否处于异常状态
    • D、判断过程的离散程度

    正确答案:A,B

  • 第10题：

    多选题
    过程改进策略包括（）两个环节。
    A

    判断过程是否处于统计控制状态

    B

    评价过程能力

    C

    判断过程是否处于异常状态

    D

    判断过程的离散程度

    E

    质量改进


    正确答案： A,B
    解析： 过程改进策略包括判断过程是否处于统计控制状态（即判稳）和评价过程能力两个环节。

  • 第11题：

    多选题
    作为分析用控制图，主要分析的内容包括（）
    A

    分析生产过程是否处于统计控制状态

    B

    分析该过程的过程能力指数是否满足要求

    C

    计算过程的不合格品率

    D

    计算过程的偏移系数


    正确答案： B,D
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    多选题
    控制图上点出界，则表明（　　）。[2007年真题]
    A

    过程处于技术控制状态

    B

    过程可能存在异常因素

    C

    小概率事件发生

    D

    过程稳定性较好

    E

    过程未处于统计控制状态


    正确答案： C,A
    解析： 控制图的判异准则有两类:①点出界就判异；②界内点排列不随机判异。控制图上点出界表明小概率事件发生，则过程出现异常，即过程未处于统计控制状态。

  • 第13题：

    加工一种轴承，其规格为（10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。
    下列推断中，正确的是（ ）。
    A.过程处于统计控制状态和技术控制状态
    B.过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态
    C.过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态
    D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态


    答案：B
    解析：
    。分析用控制图上未显示异常，表明过程处于统计控制状态。Cpk=2/3

  • 第14题：

    分析用控制图主要分析内容有（ ）。A.该过程的不合格品率
    B.该过程的能力指数是否满足要求（也称技术稳态）
    C.所分析的过程是否处于统计控制状态（也称统计稳态）
    D.所分析的过程是否满足顾客要求
    E.分析过程的合格品率


    答案：B,C
    解析：
    分析用控制图主要分析两方面的内容：①所分析的过程是否处于统计控制状态；②该过程的过程能力指数是否满足要求。维尔达把过程能力指数满足要求的状态称作技术稳态。

  • 第15题：

    从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。

    A.过程处于统计控制状态
    B.具有足够的生产能力
    C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力
    D.过程处于统计控制状态但过程能力不足


    答案：C
    解析：

  • 第16题：

    使用控制用均值一极差控制图监控过程时，若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外，则（ ）。
    A.需要重新计算控制限
    B.该子组中一定有不合格品
    C.可判定过程处于统计失控状态
    D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设


    答案：C
    解析：
    。点子出界即判异。

  • 第17题：

    将控制限作为控制标准进行日常控制，必须满足的条件有（）。
    A.过程处于统计控制状态 B.过程能力指数满足要求
    C.过程存在异常因素 D.过程能力尚未充足
    E.控制限与公差限不一致


    答案：A,B
    解析：

  • 第18题：

    关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。
    A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态
    B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态
    C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态
    D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数Cp
    E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态


    答案：B,D,E
    解析：

  • 第19题：

    过程改进策略包括（）两个环节。

    • A、判断过程是否处于统计控制状态
    • B、评价过程能力
    • C、判断过程是否处于异常状态
    • D、判断过程的离散程度
    • E、质量改进

    正确答案:A,B

  • 第20题：

    作为分析用控制图，主要分析的内容包括（）

    • A、分析生产过程是否处于统计控制状态
    • B、分析该过程的过程能力指数是否满足要求
    • C、计算过程的不合格品率
    • D、计算过程的偏移系数

    正确答案:A,B

  • 第21题：

    控制图是对过程值（）进行测定、记录、评估和监察过程是否处于统计控制状态的一种用统计方法设计的图。


    正确答案:质量特性

  • 第22题：

    单选题
    从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（　　）。[2006年真题]
    A

    过程处于统计控制状态

    B

    具有足够的生产能力

    C

    过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力

    D

    过程处于统计控制状态但过程能力不足


    正确答案： C
    解析：
    统计过程控制（Statistical Process Control，简称SPC）主要解决两个基本问题：一是过程运行状态是否稳定，二是过程能力是否充足。则一个合格的过程应当使过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力。

  • 第23题：

    单选题
    以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）
    A

    过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态

    B

    过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动

    C

    过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内

    D

    过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

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