对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。
题目
对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。
相似考题
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第1题：
测量仪器分辨力的使用准则应该至少是（）。
- A、公差的1/5
- B、公差的1/10
- C、过程变差的1/5
- D、过程变差的1/10
正确答案:B,D -
第2题：
测量系统变差的类型有哪些？
正确答案: 一、位置变差（准确度），包括：偏倚、稳定性、线性
二、宽度变差（精密度），包括：再现性、重复性 -
第3题：
测量系统的（）通常被称为测量设备的变差。
正确答案:重复性 -
第4题：
测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。
正确答案:正确 -
第5题：
测量系统的（）通常被称为评价人的变差。
正确答案:再现性 -
第6题：
对于二阶系统，加大增益将使系统的（）变差。
正确答案:稳定性 -
第7题：
填空题测量系统的（）通常被称为测量设备的变差。正确答案： 重复性解析： 暂无解析 -
第8题：
判断题稳定性是在有特殊原因变差的统计控制状态下，是测量系统对同一基准值在不同时间的偏倚的总变差。A对
B错
正确答案： 对解析： 暂无解析 -
第9题：
多选题测量仪器分辨力的使用准则应该至少是（）。A公差的1/5
B公差的1/10
C过程变差的1/5
D过程变差的1/10
正确答案： D,A解析： 暂无解析 -
第10题：
单选题以下公式错误的是（）。A测量系统的偏倚＝测量值－真值（或约定真值）
BTV（总变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋PV（零件的变差）2
CGRR（测量系统变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋AV（评价人的变差）2
Dndc（区别分类数）＝1.41*（PV/GRR）
正确答案： D解析： 暂无解析 -
第11题：
填空题测量系统的（）通常被称为评价人的变差。正确答案： 再现性解析： 暂无解析 -
第12题：
问答题测量系统变差的类型有哪些？正确答案： 一、位置变差（准确度），包括：偏倚、稳定性、线性
二、宽度变差（精密度），包括：再现性、重复性解析： 暂无解析 -
第13题：
测量系统分析是在特殊原因造成的过程变差的基础上进行分析。
正确答案:错误 -
第14题：
稳定性是在有特殊原因变差的统计控制状态下，是测量系统对同一基准值在不同时间的偏倚的总变差。
正确答案:错误 -
第15题：
以下哪种原因可能导致测量结果的变差（） 。
- A、零件的变差
- B、测量人内部变差
- C、测量仪器的变差
- D、测量环境导致的变差
正确答案:A,B,C,D -
第16题：
以下公式错误的是（）。
- A、 测量系统的偏倚＝测量值－真值（或约定真值）
- B、 TV（总变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋PV（零件的变差）2
- C、 GRR（测量系统变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋AV（评价人的变差）2
- D、 ndc（区别分类数）＝1.41*（PV/GRR）
正确答案:B -
第17题：
对于二阶系统，加大增益将使系统的（）
- A、稳态性变差
- B、稳定性变差
- C、瞬态性变差
- D、快速性变差
正确答案:B -
第18题：
精密测量电阻中为什么要求读数盘有良好的线性和小的变差？
正确答案: 精密测量电阻一般采用替代法，可以消除测量仪器示值误差的影响，但测量仪器读数盘的变差和线性将直接影响测量结果，因此必须要求由于变差和线性不一致而引起的误差小于被检电阻等级指数的1/10。
读数盘的线性包括两部分，一是指后一位十进盘十个电阻之和与前一盘示值中任一个电阻值的一致性；二是指同一十进盘相邻两个元件之间电阻值的一致性。 -
第19题：
单选题测量仪器分辨力的第一准则应该至少是：（）。A公差的1/5
B公差的1/10
C过程变差的1/5
D过程变差的1/10
正确答案： C解析： 暂无解析 -
第20题：
多选题以下哪种原因可能导致测量结果的变差（） 。A零件的变差
B测量人内部变差
C测量仪器的变差
D测量环境导致的变差
正确答案： B,A解析： 暂无解析 -
第21题：
判断题测量系统分析是在特殊原因造成的过程变差的基础上进行分析。A对
B错
正确答案： 对解析： 暂无解析 -
第22题：
单选题对于二阶系统，加大增益将使系统的（）A稳态性变差
B稳定性变差
C瞬态性变差
D快速性变差
正确答案： C解析： 暂无解析 -
第23题：
判断题对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。A对
B错
正确答案： 对解析： 暂无解析